可见CCD光束测量仪首先光斑不能超过探测器的尺寸。而且，对于较高的光强，光学元件和探测器需要确保能安全地承受激光照射。表达光束直径的常用定义有三种。是半高宽(FWHM)，它以高光强点为中心，在强度降低50%的两个点之间测量光束直径。对于高斯光束，在此计算宽度范围内包含约76%的功率。第二种是1/e光束直径，一般采用机械式光束分析仪测量高斯光束。对于高斯光束，FWHM光束直径的1.7倍等于1/e光束直径。第三种D4σ直径是ISO11146标准中推荐用于任意光束的，包括高阶模光束。这种方法测量整个光束的轮廓特征，需要注意补偿背景光。
可见CCD光束测量仪如果是专门的光线比方为了测量某个参数而用反射镜或者发光源聚集以后的光或者比方是激光这些可控光源的光线是有发射点和入射角度,而不难想像也有专门的测量入射角度的传感器。如果让你设计此类传感器显然从原理上说不是很复杂的,比方:先有个感光的板这个板子由很多个光敏电阻按照矩阵方式排列固定这块板子然后准备1块可调整角度的反射镜负责将被测光源射入到感光板上,由于感光板和反射镜是固定的感光板的矩阵就可以反映出射入光线的坐标点这样将矩阵的信息放入采集电脑或者单片机就可以按照事先的预定对应出入射角度来了。光束测试仪。
可见CCD光束测量仪无论是CMOS/CCD传感器还是刀口式检测原理，都无法承受大功率激光的直接接收，因为CMOS传感器或者CCD传感器的灵敏度都很高，仅可以承受到微瓦到毫瓦的功率范围，这使得大功率激光无法实现直接检测，这会导致因激光功率过高而直接损坏传感器，哪怕使用衰减片（ND）仍无法满足，甚至需要配合多个衰减片进行一个整体组合后才可使用，这会使得激光整体模式受到不可估计的影响。景颐光电光束质量分析仪。我们提供扫描狭缝和相机式两种光束轮廓分析仪，覆盖波长范围从200nm到2700nm，大可测量9mm光斑。两种器件都可以安装在M2扩展套件上测量光束质量因子。光束测试仪。