对微小目标区域进行jing确定位和样品制备 通过立体显微镜实现原位观察 多功能化机械处理 自动化样品处理过程控制 可获得平如镜面的抛光效果 LED 环形光源亮度可调，4分割区段可选
在 Leica EM TXP 之前，针对目标区域进行***切割，研磨或抛光等通常是一项耗时耗力，很困难的工作，因为目标区域极易丢失或者由于目标尺寸太小而难以处理。使用 LeicaEM TXP ，此类样品都可被轻易处理完成。另外，借助其多功能的特点，Leica EM TXP 也是一款可为离子束研磨技术和超薄切片技术服务的极gao效的前制样工具。
LEICA EM TXP是一款***的可对目标区域进行jing确定位的表面处理工具，特别适合于SEM，TEM及LM观察之前对样品进行切割、抛光等系列处理。它尤其适合于制备高难度样品，如需要对目标精细定位或需对肉眼难以观察的微小目标进行***处理。有了Leica EM TXP，这些工作就可轻松完成。