低压故障样品可与经论证过的光化强度系统并排暴露于有效的光化强度下，以确保获得r指r定r的光暴露，或在用经校正的测光仪! 照度仪监测的条件下，持续相当的时间。附录中提供了光化强度测定方法的例子。若用遮光对照样品(如用铝箔包装)作为暗度控制来考察由热引起的变化对总变化的影响，应使其与真实样品并排放置。此外，由于其长期稳定免维护的特点，非常适合稳定性测试与样品在受控环境下的储存。控温精度更精e确，温度范围从0℃～+70℃，湿度从10%～90%rh，符合ICH Q1A关于稳定性测试的指导方针。 “样品测试，环境及预算”——zui好的气候箱
半导体技术使箱体在运行时不仅振动很小而且极其安静，极其可靠的半导体制冷技术远比压缩机制冷技术节省多达90%的能耗，充分体现了Memmert环保理念。 节能充分体现了对气候的保护低压故障
低压故障方法1，采用任何输出相似于D65/ID65( 发射标准的光源，如具有可见紫外输出的人造日光荧光灯、氙灯或金属卤化物灯。D65( 是国际上认可的室外日光标准[ISO10977(1993)]。ID65 相当于室内间接日光际准。若光源发射光低于320nm，应滤光除去。。设备出现故障后及时报修，并做好标识在已有故障的设备上，防止另外的人员开启。