荧光光谱(1)由于 XRF 是靠检测样品所发出的荧光 X 射线来判断测试样品里面的元素含量的，对于已电镀样品，X 射线检测结果多为表层信息，化学分析多为溶样后测定整体，由于基体影响，所以两个结果会有较大差距。 (3) 如果电镀层中引入了有害物质是地，要进行管控采取化学分析的方法会比较可靠。
荧光光谱采用块体检量线法，将样品置于聚脂薄膜杯中，注意样品量，好不能少于样品杯的二分之一，其它液体样品相同。
荧光光谱(1)待机状态对仪器性能影响比较小。 (2)影响仪器稳定性的因素有:温度变化,湿度变化,电压变化等. 一般情况注意好温湿 度就可以了。