有谁知道：近红外光谱仪的用途？

近红外光谱仪可以测量物体的薄膜厚度，可以测量的膜层厚度10nm-50μm，分辨率为1nm。除此之外还会被应用在金属和玻璃材料基底上光学膜层厚度的测量。

近红外光谱仪基本配置包括一个光栅，一个狭缝，和一个探测器。这些部件的参数在选购光谱仪时必须详细说明。光谱仪的性能取决于这些部件的组合与校准，校准后光纤光谱仪，原则上这些配件都不能有任何的变动。

近红外光谱仪可以通过获得紫外线的光谱来测量紫外线强度。可以先使用样品收集紫外线，然后在通过研究紫外线的样品的光谱来得到需要的研究数据。科研人员可以使用样品固定器进行样品的吸收率测量。