近红外光谱仪采用了低成本的通用探测器，降低了光谱仪的成本，从而也降低了整个测量系统的造价光纤光谱仪基本配置包括包括一个光栅，一个狭缝，和一个探测器。
近红外光谱仪可以测量物体的薄膜厚度，可以测量的膜层厚度10nm-50μm，分辨率为1nm。除此之外还会被应用在金属和玻璃材料基底上光学膜层厚度的测量。
近红外光谱仪可以通过获得紫外线的光谱来测量紫外线强度。可以先使用样品收集紫外线，然后在通过研究紫外线的样品的光谱来得到需要的研究数据。科研人员可以使用样品固定器进行样品的吸收率测量。
