X荧光光谱仪(1) 要分清楚关注的对象，荧光分析仪较常见的两类为膜厚仪与元素分析仪，其针对的目标不同。如测厚度一般可以采用薄膜 FP 法或薄膜检量线法,测元素则用块体 FP 法与块体检量线法。
X荧光光谱仪皮革鞣制中经常会加入铬鞣剂，因铬盐能赋予成革柔软、丰满、高强度、耐储存、耐水洗、不易褪鞣、耐湿热稳定性好等优良性能。但 Cr6+对人体与自然环境有害，需要被管控。是否可以由 X 射线荧光分析得出 Cr6+含量呢，由荧光分析原理可知，X 射线荧光分析仪是基于不同元素的荧光射线能量不同，元素价态对其影响小，普通的分析仪不可区分价态，其所测 Cr 为总铬，包含各个价态，因此，精分析需要借助于化学方法。
X荧光光谱仪 (2) 测量镀层厚度,为求准确好购买标片建档. 如果需要管控 PCB 中有害物质，可以粉碎后混测，也可购买有面扫描功能的仪器，扫描后再确定哪个点可能有问题,后再准确定量。