X射线荧光(X-ray Fluorescence，XRF)是一种基于物质吸收和散射X射线的非破坏性分析技术。XRF仪器通过发射高能X射线照射样品表面，激发样品原子内部电子跃迁产生二次X射线，然后测量二次X射线的能量和强度来确定样品中元素种类和含量。XRF具有快速、准确、无损等优点，在地质勘查、矿物分析、环境监测、保护等领域得到广泛应用。它可以检测多种元素，包括金属、非金属元素和微量元素，并且可以同时测定样品中的多种元素。XRF的基本原理是利用高能X射线激发样品内部的原子核发生电子跃迁，从而产生次级X射线。次级X射线的能量和强度与样品中元素的种类和含量有关，因此可以通过测量次级X射线的能量和强度来确定样品中元素的种类和含量。此外，XRF还可以根据样品对X射线的吸收和散射特性，实现无损检测和三维成像等功能。