通过使用制冷式光谱仪，我们可以进行材料(金属/非金属)成分的检测、光谱检测、 LED检测等等。
制冷式光谱仪通常采用光纤作为信号耦合器件，将被测光耦合到光谱仪中进行光谱分析。
制冷式光谱仪可以测量物体的薄膜厚度，可以测量的膜层厚度10nm-50μm，分辨率为1nm。除此之外还会被应用在金属和玻璃材料基底上光学膜层厚度的测量。
