近红外光谱仪可以测量物体的薄膜厚度，可以测量的膜层厚度10nm-50μm，分辨率为1nm。除此之外还会被应用在金属和玻璃材料基底上光学膜层厚度的测量。
近红外光谱仪的基本结构由光栅、狭缝和探测器组成。在购买光谱仪时，必须详细说明这些元件的参数。光谱仪的性能取决于这些元件的组合和校准。校准后，光纤光谱仪的原理不能改变。
近红外光谱仪可以通过获得紫外线的光谱来测量紫外线强度。可以先使用样品收集紫外线，然后在通过研究紫外线的样品的光谱来得到需要的研究数据。科研人员可以使用样品固定器进行样品的吸收率测量。