光学镀膜膜厚仪的测量范围取决于其设计、精度以及所使用的技术。一般而言,这种仪器能够测量非常薄的膜层,其测量范围通常涵盖纳米到微米级别。对于具体能测多薄的膜,这主要受到仪器分辨率和校准精度的影响。高精度的光学镀膜膜厚仪通常具有很低的下限测量值,可以检测到纳米级别的薄膜厚度。这使得它们在薄膜科学、光学工程、材料研究等领域中非常有用,能够准确测量各种光学元件上的薄膜厚度,如反射镜、透镜、滤光片等。然而,需要注意的是,测量非常薄的膜层时,可能会受到多种因素的影响,如表面粗糙度、基底材料的性质以及测量环境等。这些因素可能导致测量结果的误差或不确定性增加。因此,在进行薄膜厚度测量时,除了选择合适的膜厚仪外,还需要对测量条件进行严格控制,以获得准确可靠的结果。总的来说,光学镀膜膜厚仪能够测量非常薄的膜层,具体测量范围需要根据仪器的性能和应用需求来确定。如需更多信息,建议查阅相关文献或咨询光学镀膜膜厚仪的制造商或供应商。