厚度测量仪能够测量的薄膜厚度范围主要取决于其技术规格和设计。一般来说，薄膜厚度测量仪的测量范围可以从几纳米到几毫米不等。具体的测量范围会根据不同的型号和制造商而有所差异。一些***的薄膜厚度测量仪采用***的测量原理和技术，如光学干涉法、激光测量法等，能够实现对超薄薄膜的***测量。这些仪器通常具有非常高的测量精度和分辨率，可以测量出薄膜的微小变化。另外，薄膜厚度测量仪的测量范围还会受到一些其他因素的影响，如样品的材料、表面状态、测量环境等。因此，在选择和使用薄膜厚度测量仪时，需要根据具体的测量需求和条件来选择合适的仪器型号和测量方法。对于需要测量超薄薄膜的应用场景，可以选择具有高测量精度和分辨率的薄膜厚度测量仪，并采用适当的测量方法来确保测量结果的准确性。同时，对于不同材料和表面状态的薄膜，可能需要采用不同的测量模式和参数设置，以获得***佳的测量效果。总之，薄膜厚度测量仪能够测量的薄膜厚度范围广泛，但具体的测量范围和精度会受到多种因素的影响。在选择和使用仪器时，需要根据具体的测量需求和条件来进行评估和选择。