XRF，即原子发射荧光分析法（X-ray fluorescence analysis），是一种常用的材料检测手段。它通过高能x射线照射样品，激发出原子的内层电子从而产生各种元素的特征光谱，利用标准谱图库比对来确定元素种类组成并测定其含量。这种方法的优势在于方便快捷、非破坏性测量以及可以同时进行多元素的分析；但其缺点是只能测得元素的含量大于1%，对于微区分布或超低本底要求时需要更精密准确的仪器如ICP - XRF才能实现 。该方法广泛应用于金属与合金的材料理化性能检验、环境监测及等领域中，具有广泛的应用价值和普及程度。