钙钛矿厚度测量仪在多次测量同一物体的结果一致性方面，表现通常非常稳定和高效。这种测量仪基于光学干涉现象，通过精确测量光波在材料表面反射和透射后的相位差来计算薄膜的厚度。由于其高度的技术先进性和精密性，它能够在多次测量中保持相对一致的结果。
首先，钙钛矿厚度测量仪采用先进的算法和技术，确保每次测量都能得到准确的数据。这些算法和技术能够有效消除误差，并提高测量的精度和稳定性。
其次，测量仪在设计和制造过程中，会严格控制各种可能影响测量结果的因素，如光源的稳定性、探测器的灵敏度等。这些因素的有效控制可以进一步确保测量结果的准确性和一致性。
此外，对于同一物体的多次测量，操作人员的技能水平和经验也会对结果的一致性产生影响。因此，在使用钙钛矿厚度测量仪时，操作人员需要经过专业培训，并严格按照操作规程进行操作，以确保每次测量都能在相同的条件下进行。
综上所述，钙钛矿厚度测量仪在多次测量同一物体的结果一致性方面表现出色。它能够提供准确、稳定且一致的测量结果，为科研和工业生产中的薄膜厚度测量提供了有力的支持。然而，为了保持测量的一致性，还需要注意操作人员的技能水平和经验，以及测量仪的定期维护和校准。