ICP-MS简述
20世纪60年代末期，采用电感耦合等离子体源的原子光谱技术成为当时应用于微量元素分析的一项非常有前
途的技术（Greenfield等，1964； Wendt与Fassel, 1965）。但在分析超低含量物质时由于背景光谱增强，光谱干扰
严重使分析灵敏度和准确度达不到要求。只有质谱法能同时满足谱图简单、分辨率适中和较低检出限的要求。因此， ICP-AES所具有的样品易于引入、分析速度快、多元素同时分析的特点与质谱仪的联用成为科学和商业上研究的
热点。1970年许多公司深入的参与了该技术的研究，CP作为发射源使等离子体中分析物有效电离能够满足新一代
仪器源的要求。同时也注意到惰性气体在大气压下的电等离子体可能是一个很好的离子源。因此人们采用四极杆 质量分析器和通道式离子检测器开展可行性研究。Gral在70年代中期首先报道了用等离子体作为离子源的质谱分 析法。1981年Gray在Surrey实验室设计完成了 ICP源上所预期性能的设备，获得了张ICP谱图。1983年英 国VG公司与加拿大Sciex公司推出商业化的ICP-MS，1984年在用户实验室才安装ICP-MS。在此以后 ICP-MS在化学分析中广泛应用开来。
电感耦合等离子体质谱法测定化妆品中的37种元素
立电感耦合等离子体质谱法测定化妆品中37种元素的检测方法，根据化妆品不同基质，选用-微波消解体系或-湿法消解体系，采用在线内标及碰撞反应池技术校正机体效应，外标法
定量进行ICP-MS测定。方法检出限1 ~ 80瞄/kg，线性相关系数均大于0.997, RSD为1.0% - 8.9%， 加标回收率为81.3% ~ 115.2%。实验结果表明，该方法简便、快速、灵敏度高、准确性好，适用于化妆品中37种元素的同时测定。
钢研纳克国产ICP-MS具有多元素同时检测的优势，灵敏度高、 线性范围宽，既适用于样品中痕量元素的检测也能同时满足微量元素的测定。ICP-MS分析中干扰问题是影响分析 结果准确度和精密度的障碍，其主要的干扰方式分为质谱干扰、基体干扰和物理效应干扰三大类。质谱干扰
可通过选择合适的同位素离子及仪器校正消除；物理干扰可通过清洗雾化室，进样锥及进样管路消除；基体干扰 是指复杂的基体引起的ICP平衡的转变，对待侧元素的质谱信号产生抑制或增应，可采用加入内标元素校正
和采用碰撞/反应池技术消除。针对化妆品的不同剂型，应用微波消解和湿法消解体系，建立了电感耦合等离子体 质谱对8类化妆品中37种元素的测定方法，为化妆品中重金属及其他有害元素的监测提供了技术支持。
空白样品检测结果异常可能是由多种原因引起的。除了之前提到的一些因素，还可能包括以下原因：
气源问题：氩气等气源的纯度不够或存在杂质，可能影响空白样品的检测。
样品容器污染：用于存放空白样品的容器可能受到污染，导致空白样品结果异常。
静电干扰：静电可能对仪器的检测产生干扰，尤其在干燥环境中更容易出现。
参数设置不当：仪器的某些参数设置不合适，如雾化气流量、等离子体功率等，可能影响空白样品的检测。
软件问题：仪器的软件可能存在故障或错误，导致数据处理异常。
外部干扰源：附近的电磁辐射、振动等外部干扰源可能影响仪器的正常工作。
要解决这些问题，可以尝试以下方法：
检查和优化气源，确保气源的纯度和稳定性。
清洗或更换样品容器，避免污染。
控制实验室的湿度，减少静电干扰的可能性。
仔细检查和调整仪器的参数设置，根据实际情况进行优化。
检查软件是否需要更新或重新安装，确保软件正常运行。
排除外部干扰源，如移动干扰源或对仪器进行屏蔽防护。
以上信息由专业从事电感耦合等离子体发射光谱仪价格的钢研纳克于2024/8/8 10:19:00发布
转载请注明来源：http://m.tz1288.com/qynews/bjgynk-2798509039.html
下一条：武汉奠基石来电咨询「多图」
