早期的光谱仪器的光信号记录主要是通过照相感光板和感光胶片来进行的。感光板的制作是通过在平整的玻璃上涂一层感光乳胶。随着光谱检测学的不断发展，人们对于光谱检测的要求越来越高，越来越广，检测数据的后期分析变得尤为重要，因此上述的记录方法都无法满足需求。上世纪七十年代初，随着CMOS 等技术的成熟，出现了多种典型的固体成像传感器件，在现代光谱仪器中所使用的光电阵列探测器可分为电荷耦合器件(CCD)、光电二极管阵列（PDA）、CMOS 图象传感器等几种。测反射率光纤光谱仪
光电二极管阵列是由多个二极管单元（像素）组成的线性阵列。它的主要优点在于具有近于理想的光电传感器特性，，象元形状和尺寸设计灵活，在近红外区灵敏度高，响应速度快；缺点是象元数较少、在紫外波段没有响应。但是它的抗辐射能力要比 CCD 高10 倍以上，能比较好的满足强辐射环境以及军事中的应用。测反射率光纤光谱仪
传统的小型光谱仪体积小，携带方便，相对廉价，但是信噪比低，灵敏度较差，大型光谱仪虽然灵敏度高，测量准确，但是体积庞大，价格昂贵，所Ｗ应用范围受到限制，所Ｗ研发一款高灵敏度，高信噪比而成本相对廉价的微型光谱仪具有非常广阔的市场前景，具有重要意义。测反射率光纤光谱仪
光谱起源于１７世纪，物理学家牛顿在１６６６年进行了光的色散实验：在暗室中将一束太阳光通过棱镜分成红、澄、黄、绿、兰、敲、紫七种颜色一一形成一道彩虹，送种现象叫做光谱１，１８０２年，英国化学家沃拉斯顿发现太阳光谱并不是一道无缺的彩虹，而是被一些黑线割裂。１８巧年，夫玻和费从太阳谱线中发现了人类认识早的吸收光谱线一＂夫琅和费线＂。１８５９年，克希霍夫和本生制造了一种分光装置对光谱进行研究，送个装置是世界上台光谱仪，建立了光谱分析的基础。１８８２年，罗兰发明了凹面光栅，把刻痕刻在凹球面中，大大缩小了光栅的体积，并且提高了性能。测反射率光纤光谱仪
便携式制冷型光纤光谱仪在强光照射下，接近饱和时的信号平均值与信号偏离平均值的抖动值的比值。光谱仪的信噪比受探测器与电路的限制，通过多次测量求平均值可Ｗ提高信噪比。测反射率光纤光谱仪
波长分辨率是描述便携式制冷型光纤光谱仪分辨波长的能力，分辨率越高，即区分两条光谱线的间隔越小，波长分辨率与波长的取样间隔（数据的Ｘ坐标间隔）是两个不同的概念。如上工作光谱区所介绍，分辨率与工作光谱区两者要做权衡，高的分辨率则意味着较窄的工作光谱区。测反射率光纤光谱仪
以上信息由专业从事测反射率光纤光谱仪的景颐光电于2024/7/20 6:47:27发布
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