门内饰测试机械试验（力载荷下的门内饰尺寸稳定性试验、饰带区域试验的尺寸稳定性）
强度试验（门拉手的试验误用力试验、顶面垂直方向zui大承载力试验、拉出力测试、扶手zui大承载力试验）
耐久试验（扶手耐久试验、地图袋耐久试验、门把手耐久试验）
环境试验（尺寸稳定性试验、红外光老化试验、温湿度循环试验）
声学试验（噪音测试）
1) PIL(Processer-In-Loops)处理器在环测试，目的是测试自动生成的代码写入控制器后，功能实现上是否与模型有偏差。PIL看似无关紧要，但不做重视也会引起一些不良后果（如调度问题、CPU Load，堆栈溢出等）
2) HIL(Harware-In-Loops)硬件在环测试，测试控制器完整系统功能，一般会搭建控制器所在系统的测试台架，使用电气元件模拟传感器（如温度）和执行器（如风扇负载）的电气特性，验证完整的系统功能。
以上信息由专业从事设备状态监测的慧声智创于2024/7/10 10:29:51发布
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