门内饰测试机械试验(力载荷下的门内饰尺寸稳定性试验、饰带区域试验的尺寸稳定性)
强度试验(门拉手的试验误用力试验、顶面垂直方向zui大承载力试验、拉出力测试、扶手zui大承载力试验)
耐久试验(扶手耐久试验、地图袋耐久试验、门把手耐久试验)
环境试验(尺寸稳定性试验、红外光老化试验、温湿度循环试验)
声学试验(噪音测试)
1) PIL(Processer-In-Loops)处理器在环测试,目的是测试自动生成的代码写入控制器后,功能实现上是否与模型有偏差。PIL看似无关紧要,但不做重视也会引起一些不良后果(如调度问题、CPU Load,堆栈溢出等)
2) HIL(Harware-In-Loops)硬件在环测试,测试控制器完整系统功能,一般会搭建控制器所在系统的测试台架,使用电气元件模拟传感器(如温度)和执行器(如风扇负载)的电气特性,验证完整的系统功能。
以上信息由专业从事设备状态监测的慧声智创于2024/7/10 10:29:51发布
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