PV试验在DV试验基础上增加环境模拟试验。所用零件必须是正常生产线下来的模具件。环境模拟包括粉尘、温度震动、温湿冲击、温度冲击等。在实验室温箱中实现全生命周期的老化过程。老化之后的零件进行基础点爆，需满足设计要求。涉及到环境耐久，属于长周期试验，一轮一般至少需要3个月。供应商内部的子零件测试会更加严格，如发生器的温湿试验，设计冗余要大于整车使用寿命。
1) PIL(Processer-In-Loops)处理器在环测试，目的是测试自动生成的代码写入控制器后，功能实现上是否与模型有偏差。PIL看似无关紧要，但不做重视也会引起一些不良后果（如调度问题、CPU Load，堆栈溢出等）
2) HIL(Harware-In-Loops)硬件在环测试，测试控制器完整系统功能，一般会搭建控制器所在系统的测试台架，使用电气元件模拟传感器（如温度）和执行器（如风扇负载）的电气特性，验证完整的系统功能。
传感器选择
在下线检测中，由于生产线周围噪声环境嘈杂。要想试验台的振动和噪声得到可靠的测量结果，设计一个振动优良的测量台架，比设计一个可靠的静音房声学测试环境，不论是从成本，还是技术上都要更容易实现。另一方面，产品本身发出的噪声大都是由零部件内部机械结构的摩擦或振动引起的，通过结构传到壳体，再通过空气传到人耳。所以人耳对产品噪声的主观感受可以由加速度传感器直接测量产品振动代替。
以上信息由专业从事汽车座椅滑轨检测的慧声智创于2024/6/23 10:14:20发布
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