EDX 8800M材料分析光谱仪供应服务周到 英飞思科学仪器公司

EDX 8800M材料分析光谱仪供应服务周到 英飞思科学仪器公司[英飞思科学66089b4]内容：电子跃迁到较高能级以后处于激发态，但激发态电子是不稳定的，大约经过10^-8秒以后，激发态电子将返回基态或其它较低能级，并将电子跃迁时所吸收的能量以光的形式释放出去，这个过程称原子发射光谱。可见原子吸收光谱过程吸收辐射能量，而原子发射光谱过程则释放辐射能量。 [2] 发射光谱分析的过程 语音1．把试样在能量的作用下蒸发、原子化(转变成气态原子)，并使气态原子的外层电子激发至高能态。

电子电气产品中有害物质检测RoHS2.0样品拆分通用要求

General Disassembly Requirements for Testing Hazardous Substances in Electrical and Electronic Products

在电子电气产品有害物质的检测中 ，样品拆分过程对于检测结果具有直接的影响。本标准参考欧盟关于均质材料的定义对样品进行拆分，将样品拆分成终提交检测的单元，然后再进行检测。对于用机械手段难以拆分的非均质材料，按照一定的条件，如质量、体积等符合本标准规定的，可以直接提交检测，不需进一步拆分。本标准用举例和图示的方法对拆分的原则进行说明

材质必须均匀。你的待测元素不均匀的话，多的地方和少的地方差别会较大。因为XRF光谱仪入射光线一般较窄，直径1-5微米，也就是说照射到样品的区域会很小，所以不均匀样品检测会不准确，当然主要也是看不均匀程度。

你的交错规律排列指的什么？如果是一层高分子，一层无机物，在一层高分子一层无机物，并且每层的厚度一定（比如层高分子都是10微米厚）。这样的可以在一定程度上看成是均匀的，但是用X荧光光谱仪测量还是有问题，因为X荧光透过不同物质有厚（某元素的X荧光透射不出来的厚度，原因是自吸收）的问题。

以上信息由专业从事EDX 8800M材料分析光谱仪供应的英飞思科学于2024/4/29 5:57:18发布

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