苏州英飞思科学仪器有限公司,英文名字:Efficiency Scientific Instrument Co.,Ltd.
公司logo和英文缩写为ESI。
英飞思ESI坐落于美丽而现代的苏州工业园。
XRF镀层测厚仪工作原理镀层测厚仪是将X射线照射在样品上,通过从样品上反射出来的第二次X射线的强度来测量镀层等金属薄膜的厚度,因为没有接触到样品且照射在样品上的X射线能量很低,所以不会对样品造成损坏。同时,测量的也可以在10秒-30秒内完成。
XRF金属镀层测厚仪产品特点
>测试快速,无需样品制备
>可通过内置高清CCD摄像机来观察及选择定位微小面积镀层厚度的测量,避免直接接触,污染或破坏被测物
>备有多种以上的镀层厚度测量和成分分析时所需的标准样品
>可覆盖元素周期表Mg镁到U铀
>SDD检测器,具有高计数范围和出色的能量分辨率
>可切换准直器和滤光片
XRF金属镀层测厚仪应用场景
>EDX8000B镀层测厚仪可以用于PCB镀层厚度测量,PCB镀层分析,金属电镀镀层分析;
>测量的对象包括镀层、敷层、贴层、涂层、化学生成膜等
>可测量离子镀、电镀、蒸镀、等各种金属镀层的厚度
以上信息由专业从事EDX8000TPlusXRF镀层测厚仪的英飞思科学于2024/6/27 12:46:18发布
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