分析仪厂商服务为先「英飞思科学」

分析仪厂商服务为先「英飞思科学」[英飞思科学66089b4]内容：

RoHS检测方法可以参考IEC62321：2008电子电气产品中六种限用物质浓度的测定程序

首先用XRF光谱仪进行无损筛选，快速，非破坏性，成本低。但干扰因素多，误差较大。

XRF光谱RoHS分析仪以其可进行快速无损筛检的性能，受到多个行业的青睐，其中包括

儿童用品

玩具、首饰、小饰品、蜡笔、粉笔、塑料、餐盒及背包

服装和服饰：衣服、拉链、纽扣、贴花、莱茵假钻、镶边、袋子和钱夹。

光谱分析仪的分析原理是将光源辐射出的待测元素的特征光谱通过样品的蒸汽中待测元素的基态原子所吸收，由发射光谱被减弱的程度，进而求得样品中待测元素的含量。它符合郎珀-比尔定律 A= -lg I/I o= -LgT = KCL 式中I为透射光强度，I0为发射光强度，T为透射比，L为光通过原子化器光程由于L是不变值所以A=KC。物理原理任何元素的原子都是由原子核和绕核运动的电子组成的。

使用这些标样可以根据的化学含量对测量出的XRF强度进行校准。通过这样的校准，能够以准确度和度确定未知聚合物样品的成分。美国加联提供的标样的元素分布同质性极高，而且，由于标样中的各种元素含量经过精挑细选且不具关联性，因此可以准确确定谱线重叠校正系数。校准标样程序包包含四个多元素聚乙烯标样（每个标样的元素含量和重复项各不相同）和一个空白样。

材质必须均匀。你的待测元素不均匀的话，多的地方和少的地方差别会较大。因为XRF光谱仪入射光线一般较窄，直径1-5微米，也就是说照射到样品的区域会很小，所以不均匀样品检测会不准确，当然主要也是看不均匀程度。

你的交错规律排列指的什么？如果是一层高分子，一层无机物，在一层高分子一层无机物，并且每层的厚度一定（比如层高分子都是10微米厚）。这样的可以在一定程度上看成是均匀的，但是用X荧光光谱仪测量还是有问题，因为X荧光透过不同物质有厚（某元素的X荧光透射不出来的厚度，原因是自吸收）的问题。

以上信息由专业从事分析仪厂商的英飞思科学于2024/7/11 7:52:08发布

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