在反射模式将白色的纸放置在光具(底片)之下，介于光具透明和不透明范围之间，以提高其对比度。经过交替的变换达到或接近所使用的标准的AOI系统。这种方法不是通用的的，更多的倾向是由于微小的划伤，才会出现假的缺陷报告。另外:容易产生错误的是由于光具表面银粒子无光泽,再通过AOI的反射模式，特别是焦点不是在光具银乳胶膜上，就很容易出现假的读出。而表面无光泽的粒子致使真空度下降。这些粒子是甲1基丙1烯酸树脂，直径大约7微米，它能够使光发出散光。
孔金属化前主要检查铜焊盘的清洁程度和孔的位置、悍盘的位置。微孔的检查理想的是适合AOI 系统检测，因为激光(不是白色光)钻的孔，能够独立的检查铜和介质材料，这因为利用铜的反射和介质的荧光图形获得通道。微孔金属化后检查是通过另外信息达到检测孔壁金属化表面覆盖状态，则且设定孔壁的角度进行检查。
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有几种方法可用于编程AOI系统：
使用“样板”：一种方法是提供一个已知良好的电路板作为AOI自动光学检测系统的目标。这通过系统传递，以便它可以学习相关属性。它将查看组件，每个接头的焊料轮廓以及许多其他方面。为了给系统提供足够的方差数据，通常需要几个板。
基于算法的编程：将PCB数据提供给系统，然后为板生成自己的配置文件。该方案还需要真正的电路板，但通常需要的电路板较少。
一般AOI可以检测的项目包括：元件的缺件、多件、错件、便宜、侧立、立碑、反贴、极反、换件、IC引脚弯曲，文字识别。自动光学检测AOI 是英文 Automatic Optical Inspector 的简写， 中文名为自动光学检测仪 ，AOI的基本工作原理即用光学手段获取被测物图形，一般通过一传感器（摄像机）获得检测物。简单点说就是运用相机对产品拍照取值，然后与正确数值对比的检测机器，用机器视觉代替人工检测的一种检测设备。
以上信息由专业从事半导体光学检测公司的亿昇光电于2024/6/19 10:06:24发布
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