光纤光谱仪发射光谱测量
发射光谱测量可以用不同的实验布局和波长范围来实现，还要用到余弦校正器或积分球。发射光谱测量可以在紫外/可见和可见/近红外波长范围内测量。
对于发射光谱的测量，光谱仪可以配置成波长范围从200-400nm或350-1100nm，或组合起来实现紫外/可见200-1100nm，并可以在美国海洋光学公司的定标实验室里进行辐射定标。定标后的实验布局不能改变，如光纤和匀光器都不能更改。
为了使实验布局更灵活，用可见/近红外定标光源（LS-1-CAL）或紫外/可见/近红外定标光源（DH2000-CAL）可以在用户现场进行定标。功能强大的广州标旗软件可以完成定标并载入辐射定标数据。
光纤光谱仪薄膜厚度测量
光学的膜厚测量系统基于白光干涉测量原理，可以测量的膜层厚度10nm-50μm，分辨率为1nm。薄膜测量在半导体晶片生长过程中经常被用到，因为等离子体刻蚀和淀积过程需要监控；其它应用如在金属和玻璃材料基底上镀透明光学膜层也需要测量膜层厚度。配套的广州标旗应用软件包括丰富的各种常用材料和膜层的n值和k值，可以实现膜层厚度的在线监测，并可以输出到Excel文件进行过程控制。
拉曼近红外光纤光谱仪是一种利用拉曼散射效应进行光谱分析的设备。它通过将光线通过光纤传输到样品上，然后通过检测散射光的频率变化来获取样品的光谱信息。这种设备在化学、生物、医学等领域有广泛的应用，可以用于分析物质的结构、成分、纯度等信息。
以上信息由专业从事近红外光纤光谱仪厂家的择优乐成科技于2024/6/28 8:12:54发布
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