钢研纳克SparkCCD7000

高分辨率 CCD 检测器

像素数：3648+46 全行业较高

像素尺寸：8μm 全行业较小

精薄镀膜，紫外波段检出限更低，可做低含量 N

万级超净环境下打造较优光学系统

帕邢 - 龙格结构罗兰光学系统，无像差，分辨率均匀

高发光全息光栅，光栅焦距 500mm, 刻线为 2700 条 /mm，全行业较高

线分辨率 0.7407nm/mm

像素分辨率 0.005926nm

谱线范围：130-800nm（可分析 N、Li、 Na、K 等元素）

智能控制系统，再启动耗时行业较低

潮汐式冲洗方式，冷机（关机 12 小时）启动只需 30min，热机启动时间 5min

智能判断分析间隔时间，合理补充气，降低气消耗

60ml/min 超低待机流量，一瓶气 24 小时待机 70 天

分片式曝光，痕量元素识别强度大幅提高，检出限更低

一次激发，分片曝光，同时采集，同时回数

独立控制不同 CCD 的积分曝光时间

提升痕量元素的强度，降低仪器的检出限

随波段调节积分时间，提升仪器的 稳定性

铝及铝合金加工产品是有色金属工业中的轻金属产品，是其他行业的重要原材料。之前铝及铝合金中化学成分的测定常用滴定法、分光光度法与原子吸收光谱法等，但是这些方法样品前处理过程繁琐。近年来，随着国产直读光谱仪的飞速发展，在金属成分分析应用中运用的越来越广泛。但是，对于非常薄铝箔进行分析时存在一定的困难：分析样品在预燃激发时非常容易被击穿，在层叠预燃时又困于将其中滞留的空气赶跑，导致激发失败。因此利用直读光谱仪对铝箔样品进行分析，样品的制备是关键技术之一。

在直读光谱仪上进行分析的样品均要求为块状固体。制备块状铝箔样品，途径一是将样品高温加热至熔融，然后冷却使其凝结成块状；其二是通过机械外力作用把铝箔压制成结实的块状。前者对于分析一些易挥发性元素（As, Sn等）不利；此外，如果铝箔样品表面经过钝化等工艺处理，难于融结。本文用第二种方法制备样品，并以激发时收集到的基体元素Al的光强来比较各种制样方法的差异。

结果表明，由机械压样机破碎样压制制备的铝箔样品可胜任在直读光谱仪上进行快速分析，测定的结果与化学方法相一致，适合于日常检验样品量繁重的工厂、实验室、品质检验部门之样品的制备及检测。

直读光谱仪分析

从事直读光谱仪的这些年里，经常会碰到客户问：为什么直读光谱仪需要配置标准样品？直读光谱仪不是直接测量产品就应该很准确的吗？为什么还需要标准样品去校准？等等一系列问题。这些问题都涉及到标准物质，针对这些问题，想和大家分享一下关于标准物质的知识。

在日常生产过程、实验研究、科学探索等各行各业，其实我们都能见到人们运用各种各样的仪器仪表、测量用具。那么怎样保证和衡量这些设备是否可靠准确的运行，这其中必然会有一个标准的参照物来做参考和对比，那么这个参照物也可以简单的定义为标准物质。

标准物质（RM）是具有一种或多种足够均匀和很好的确定了特性，用以校准测量装置、评价测量方法或材料赋值的一种材料或物质。 注：一种标准物质可以是纯的或者混合的气体、液体或固体。

光电光谱分析选用的分析线，必需符合下列要求

直读光谱分析时，一般都采用内标法。因内标法进行分析时常采用多条分析线和一条内标线组成，常用试料中的基体元素为内标元素。组成的线对要求均称，就是当激发光源有波动时，两条线对的谱线强度虽有变化，但强度比或相对强度能保持不变。

如R表示强度比即        

R=I1/I0

I1为分析线的强度，Io为内标线强度，表明I1和Io同时变，而R则不受影响。R与含量C之间有线性关系。

在光电直读光谱分析时，有很多分析通道，要安装许多内标通道有困难，因此采用一个内标线。但有人认为再要提高光电光谱分析的准确度还得采用不同的内标线，这还有待于光电转换元件的小型化来解决。

光电法时，有时还用内标线来控制曝光量，称为自动曝光，也就是样品在曝光时，分析线和内标分别向各自积分电容充电，当内标线的积分电容器充电达到某一预定的电压时，自动截止曝光。此时分析线的积分电容器充电达到的电压即代表分析线的强度I，并且亦即代表分析线的强度比R(因为R=I1/Io，而此时Io保持常数)这个强度I或强度比R就由测光读数所表示。

现在一般采用计时曝光法较为普遍。