CT检测

工业CT检测技术是以X 射线和γ射线作为辐射源的工业CT，其工作原理就是射线检测的原理。计算机层析成像技术使用不同的能量波作为辐射源，其工作原理也有所不同。在工业无损检测中广泛应用的是透射层析成像技术(ICT),使用的辐射源多为x射线或y射线，包括低能X 射线或由产生的高能X射线，常用的γ射线同位素则有192Ir、137Cs 和60Co 等。

CT检测分立探测器

工业CT所用的探测器有两个主要的类型—分立探测器和面探测器。而分立探测器常用的X射线探测器有气体和闪烁两大类。

气体探测器具有天然的准直特性，限制了散射线的影响，几乎没有窜扰，且器件一致性好。缺点是探测效率不易提高，高能应用有一定限制。其次探测单元间隔为数毫米，对于有些应用显得太大。

CT检测样品扫描系统

样品扫描系统形式上像一台没有刀具的数控机床，从本质上应当说是一个位置数据采集系统，从重要性来看，位置数据与射线探测器测得的射线强度数据并无什么不同。仅仅将它看成一个载物台是不够的。设计扫描系统时首先需要考虑的是检测样品的外形尺寸和重量，要有足够的机械强度和驱动力来保证以一定的机械精度和运动速度来完成扫描运动。同时还要考虑，选择适合的扫描方式和几何布置，确定对机械精度的要求，并对各部分的精度要求进行平衡。根据扫描和调试的要求选择合适的传感器以及在计算机软件中对扫描的位置参数作必要的插值或修正等。

CT检测X射线管发出的X射线能谱

低能射线部分其实并不能很好地穿透材料，或是根本不能。反而，低能射线会引起“射线硬化”而极大地损害图像质量。这一现象在扫描较“重”或是厚度较大的材料是尤为严重。为了除去射线中的低能部分，会在工件之前放置射线过滤片。过滤片的作用是阻挡低能射线，但同时会降低图像的亮度。如果X射线管不能提供足够的功率，那就不得不牺牲图像的亮度或是忍受较高的图像噪声，从而降低扫描质量。这样的话高功率射线管带来的好处就显而易见了，高品味的X射线可以通过过滤来获得，同时又不降低图像亮度，从而保证了能够得到较高的扫描质量。