ICP光谱仪原理是什么？

ICP光谱仪又称分析仪，广泛为认知的为直读ICP光谱仪。以光电倍增管等光探测器测量谱线不同波长位置强度的装置。它由一个入射狭缝，散系统，一个成像系统和一个或多个出射狭缝组成。以色散元件将辐射源的电磁辐射分离出所需要的波长或波长区域，并在选定的波长上(或扫描某一波段)进行强度测定。以上为icp光谱仪原理是什么，通过以上内容，我想您应该了解了什么是icp光谱仪及它的原理，希望以上内容能帮到您。分为单色仪和多色仪两种。

ICP光谱仪的工作原理：

根据现代ICP光谱仪器的工作原理，ICP光谱仪可以分为两大类：经典ICP光谱仪和新型ICP光谱仪。经典ICP光谱仪器是建立在空间色散原理上的仪器;新型ICP光谱仪器是建立在调制原理上的仪器。经典ICP光谱仪器都是狭缝ICP光谱仪器。调制ICP光谱仪是非空间分析的，它采用圆孔进光。漂移补偿是一种常规监视过程，其原理是在进样间歇期间，监测多条氢线波长，将实际值与理论值相比较，并对误差进行补偿。根据色散组件的分析原理，ICP光谱仪器可分为：棱镜ICP光谱仪，衍射光栅ICP光谱仪和干涉ICP光谱仪。

光学多道分析仪OMA是近十几年出现的采用光子探测器(CCD)和计算机控制的新型光谱分析仪器，它集信息采集，处理，存储诸功能于一体。

由于OMA不再使用感光乳胶，避免和省去了暗室处理以及之后的一系列繁琐处理，测量工作，使传统的光谱技术发生了根本的改变，大大改善了工作条件，提高了工作效率;使用OMA分析光谱，测量准确迅速，方便，且灵敏度高，响应时间快，光谱分辨率高，测量结果可立即从显示屏上读出或由打印机，绘图仪输出。它己被广泛使用于几乎所有的光谱测量，分析及研究工作中，特别适应于对微弱信号，瞬变信号的检测。砂纸一定不要被高合金含量的样品污染（例如：应该先用于低合金样品，再用于高合金样品）。

ICP光源观察方式

水平观察：又称为轴向观察或端视观测，是采用水平放置的ICP光谱仪炬管，“火焰”气流方向与采光光路方向呈水平重合;可使整个火焰个个部分的光都全部通过狭缝。水平观察方式的优点是：由于整个“火焰”各个部分的光都可以被采集导致灵敏度高，对简单样品有较好的检出限;其缺点：基体效应和电离干扰大，线性范围小，炬管溶液积炭和积盐而沾污，需要及时清洗和维护，RF功率设置不能一般不超过1350W;使用于光谱仪水质分析中。对于气体流量控制装置要定期(一般半年)检查塑胶管路是否老化泄漏，管路接头是否漏气，气体流量计和气压指针是否正常。

ICP光谱仪的校正方法

波长校正

波长校正是为使实际波长同检测器检出波长相一致。大致可分为两分部：首先通调整仪器来对光谱仪进行校正，然后是通过漂移补偿的办法减少因环境的变换导致谱线产生位移。ICP发射光谱法的分析校正曲线具有很宽的线性范围，在一般场合为5个数量级，好时可达6个数量级。光谱校正是仪器实际测得的波长与理论波长之间出现的偏差别进行的校正，一般是通过测试一系列元素的波长来进行校正，校正后所得数据即为对光谱彼进行校正的校正数据。

漂移补尝是因为光普仪光谱线位移与波长、温度、湿度、压力变化之间有非线性函数关系，这种函数关系具有普遍适用性。其中零级光谱线随波长、温度变化产生的位移。维修ICP光谱仪的技巧今天，ICP光谱仪小编在这里给大家分享一些关于维修ICP光谱仪的技巧，掌握这些方法有助于节省维修时间，提高工作效率。漂移补偿是一种常规监视过程，其原理是在进样间歇期间，监测多条氢线波长，将实际值与理论值相比较，并对误差进行补偿。

ICP光谱仪主要用于微量元素的分析，可分析的元素为大多数的金属和硅、磷、 硫等少量的非金属，共 72 种。广泛地应用于质量控制的元素分析，超微量元素 的检测，尤其是在环保领域的水质监测。由于光谱的特征性强，所以对于一些化学性质极相似的元素的分析具有特别重要的意义。还可以对常量元素进行检测，例如组分 的测量中，主要成分的元素测定。

ICP光谱仪的校正

光学系统校正

在PROFILE仪器中，操作软件自动控制仪器每30分钟快速校正、每2小时完全校正光学系统。如果实验室环境温度变化较大，不能保证工作条件，可能造成测量结果数据漂移。

光学系统校正使用灯，选择Hg8线（波长253.652nm），仪器内部装有灯，只要按照操作规程操作即可。

等离子体位置校正

等离子体位置校正的目的是将光源对准光学系统。通常在重新装配进样系统后，点燃等离子体，用Mn溶液（10ug/mL）校正。

在等离子体位置校正过程中，值得注意的是：确保选中Mn 257.610波长、Mn溶液能够正常进入并形成气溶胶进入等离子体。如果上述条件没有满足，可能造成校正失败。