ICP光谱仪原理是什么？

ICP光谱仪又称分析仪，广泛为认知的为直读ICP光谱仪。而目前，光谱仪的分析技术得到了广泛的应用，如空气污染、水污染、食品卫生、金属工业等的检测中。以光电倍增管等光探测器测量谱线不同波长位置强度的装置。它由一个入射狭缝，散系统，一个成像系统和一个或多个出射狭缝组成。以色散元件将辐射源的电磁辐射分离出所需要的波长或波长区域，并在选定的波长上(或扫描某一波段)进行强度测定。分为单色仪和多色仪两种。

ICP光谱仪的工作原理：

根据现代ICP光谱仪器的工作原理，ICP光谱仪可以分为两大类：经典ICP光谱仪和新型ICP光谱仪。ICP光谱仪的使用或管理人员不明白电子常识，不了解仪器构造，不要容易去动，避免发生意外，除尘应事前停机并关掉供电电源下进行。经典ICP光谱仪器是建立在空间色散原理上的仪器;新型ICP光谱仪器是建立在调制原理上的仪器。经典ICP光谱仪器都是狭缝ICP光谱仪器。调制ICP光谱仪是非空间分析的，它采用圆孔进光。根据色散组件的分析原理，ICP光谱仪器可分为：棱镜ICP光谱仪，衍射光栅ICP光谱仪和干涉ICP光谱仪。

光学多道分析仪OMA是近十几年出现的采用光子探测器(CCD)和计算机控制的新型光谱分析仪器，它集信息采集，处理，存储诸功能于一体。

由于OMA不再使用感光乳胶，避免和省去了暗室处理以及之后的一系列繁琐处理，测量工作，使传统的光谱技术发生了根本的改变，大大改善了工作条件，提高了工作效率;使用OMA分析光谱，测量准确迅速，方便，且灵敏度高，响应时间快，光谱分辨率高，测量结果可立即从显示屏上读出或由打印机，绘图仪输出。对于制冷装置应该经常清洗过滤网积灰，和定期更换水冷却，保证制冷剂正常运行，以上工作可由操作者完成，除此之外，气体流量计、气压表和电磁阀也应该检测，如果出现故障应该由本单位***维护人员及时更换。它己被广泛使用于几乎所有的光谱测量，分析及研究工作中，特别适应于对微弱信号，瞬变信号的检测。

ICP光源观察方式

双向观测：双向观测是在水平观测ICP光源的基础，增加一套侧向采光光路，实现垂直/水平双向观测，即在炬管垂直观测的方向依次放置3块反射镜，当要使用垂直观测的时候，就通过3块反射镜把炬管垂直方向上的光反射到原光路中，并通过旋转原光路的块反射镜，使垂直方向来的光与原水平方向来的光在整个光路中重合。频率和输入功率：激发温度随功率增大而，近似线性关系，在其他条件相同时，增加频率，放电温度降低。该观测方式的切换反射镜由计算机控制，该方式融合了轴向、径向的特点，具有一定的灵活性，增强了测定复杂样品的能力。改观测方式可实现以下3中方式的测量：

①全部元素谱线水平测量。

②全部元素谱线垂直测量。

③部分元素谱线水平测量，部分元素谱线垂直测量。

双向观测能有效解决水平观测中存在的电子干扰，进一步扩宽线性范围。更进一步，如果既要校正基体含量的影响，又要校正共存元素的干扰，就应该用“表观浓度”来拟合工作曲线。但是该观测方式需要不断地切换反射镜，可 能导致仪器的稳定性变差。由于径向观测的需要，炬管侧面必须开口，导致炬管的寿命大大降低，同时也改变了炬焰的形状。炬管开口处必须严格与光路对准，要不然炬管壁容易积累盐，会使检测结果严重错误;同时如果在开口出现积盐同样也会导致仪器检测结构存在严重的错误，必须注意清洗。而且增加了曝光次数，降低了分析速度，增加了分析消耗。

ICP光谱仪的特点

1、 样品中所有要分析的元素(几个、十几个甚至几十个)可以一次同时分析出来,对于牌号复杂的产品,要求分析元素愈多愈合算,经济效益好.

2、 分析精度非常高,可以有效控制产品的化学成份,保证它能符合国家标准的规格,甚至可将合金成份控制到规格的中下限,以节省中间合金或铁合金的消耗.

3、 分析数据可以从计算机打印出来或存入软盘中,作为永1久性记录.

ICP光谱仪光学系统的知识

1.分辩率

光谱仪的分辩率决定了仪器分辩复杂谱线的能力。光学多道分析仪OMA是近十几年出现的采用光子探测器(CCD)和计算机控制的新型光谱分析仪器，它集信息采集，处理，存储诸功能于一体。高分辨率减少了建立分析方法所需的时间，有较好的检出限和较高的准确度。ARCOS 的实际分辩率为：Fe(310.030)<0.007nm。采用3600刻线/mm光栅的光谱范围为190nm—520nm，可以适用于大部分的光谱分析元素。

2.光栅直接驱动

ARCOS型光谱仪采用直接驱动光栅的机械传动方式，计算机控制下的自动波长参比保证波长的机械准确度总是优于0.003nm。电器元件受潮后会降低绝缘性能，可用热吹风吹干，禁止贸然使用，否则会击穿电器元件发生短路造成光谱分析仪电路系统被烧毁。由于的重现性,扫描速度很快,全谱范围扫描小于8秒.光栅转动的高速度使得仪器在1分钟内可以分析15个元素,这意味着节省气和样品,分析速度快, 稳定性较高。