详细分享校准红外线气体分析仪

　校准红外线气体分析仪目的是为了确保安全生产过程用于监视生产气体中某种气体体积浓度的仪器的准确性，特质定本自校规程。　　本规程规定了红外线气体分析仪的技术要求，校准设备，校准方法和校准结果的处理，本规程仅适用于具规定范围内的红外线气体分析仪的校准。

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在线气体分析仪在工业流程中的应用

气体成分分析的特点及要解决的问题，在工业中重要也是用得多的是气体成分的分析测量。根据气体成分分析仪工作原理的不同，大致可分为两种测量方式：一是直接测量方式，即将探头安装在过程气体管道中直接测量(测量、变送装置在探头内)，如红外线、紫外线和激光气体分析器等；一是间接(取样)测量方式，即将过程气体抽出进行除尘等处理后送至分析进行测量(测量、变送装置在内)。对于采用间接分析测量的来说，由于受工业过程气体高温、高粉尘、高水份、负压及腐蚀性等恶劣气体条件影响，面对的大困难就是怎样获得适合测试条件的样气。***的方法就是采用预处理装置对样气进行处理。由于一些进口的分析仪本身技术的发展已比较成熟，可以满足工业分析的需要。因此，选用(制作)能适应工艺条件的、性能***的预处理装置是解决分析使用问题的关键。对于采用直接分析测量的来说，由于它采用了新光学技术，能在不影响被测气体本身状态的情况下进行测量，具有测量准确、反应迅速的优点。尤其是它不需预处理装置，省去了在自动吹扫装置上的投资，与传统的热导式气体分析仪相比有很大的优势。

红外线气体分析仪的测量误差分析

所谓干扰组分就是指与待测组分特征吸收波带有交叉或重叠的其他组分。为了消除干扰组分的干扰，准确检测待测组分的浓度，可采取多种措施，如设置滤波气 室、或干涉滤光片，使这些干扰组分特征吸收波带的光在进入测量气室或检测器之前就被吸收掉，只让待测组分特征吸收波带的光通过。

　　水分干扰：水分广泛存在于工艺气体中，生产状态的变化，预处理运行的变化，环境温度、压力的变化，都会使进入分析仪中的气样的含水量发生变化。水分在 1~9μm波长范围内几乎有连续的吸收带，其吸收带和许多组分特征吸收波带重叠在一起。当两者的吸收波带重叠时，即使采取前述措施，也难以消除水分干扰带 来的测量误差。因为这些措施对水分和被测组分的作用是完全相同的，由于气样中水分的含量会随时变化，所以很难估计其对测量误差的影响。减少或降低水分对待 测组分的干扰，目前的有效办法是在预处理系统中除水脱湿，降低气样的露点。常用的办法是采用带温控系统的冷却器降温除水。

气体分析仪　　

测量气体成分的流程分析仪表。在很多生产过程中，特别是在存在化学反应的生产过程中，仅仅根据温度、压力、流量等物理参数进行自动控制常常是不够的。例如，在合成氨生产中，仅控制合成塔的温度、压力、流量并不能保证较高的合成率，必须同时分析进气的化学成分，控制氢气和氮气的很好的比例，才能获得较高的生产率。