蔡司  CONTURA   从容应对各种挑战--无论现在还是未来

ZEISS CMM CONTURA广泛适用于各类型工件的测量，在大批量复杂零部件的生产过程中，快速获得清晰的测量结果至关重要。关键时刻，测量结果更须确凿无疑。来自蔡司的工业测量技术保证了高水平的质量控制。 ZEISS CMM CONTURA广泛适用于各类型工件的测量，固定平台桥式机体设计，融合***的DLC钻石涂层材质横梁和Z轴结构，结合机器移动时高稳定设计，兼之高精度扫描测头系统及众多技术优势，确保了系统的精度及动态性能；同时，高刚性结构提高了系统对于环境的抗干扰性能及长久的稳定性。

蔡司三坐标测量机

扫描测头

当没有扫描测量需求时，用触发式测头在测量效率上反而要高于扫描测头。 另外值得一提的是，一些特定功能必须依靠扫描测头才能实现，例如“自定心”。“自定心”的应用场合一般是用于寻找孔的中心点、槽的底部等等，这就要求测头具备搜索功能，直至测头的模拟信号达到一个符合条件的稳定状态后才进行采点，这个功能是“一碰即退”的触发测头无法实现的。

三坐标测头

光学测头相比接触式测头还有另一方面的优势。接触式测头采点时，测头记录的是测球中心的空间坐标，然后根据测球半径来进行补偿，得出实际点的坐标。但当测量特定位置的三维曲线时，如果不按照测点的法线方向去采点，会存在半径补偿余弦误差;而如果按照测点的法线方向去采点，又会产生实际测点位置出现偏差的情况。这种情形在测量透平叶片时尤为常见。