相位差光学材料量

产品特点：可更加***的量测低相位差(0.1nm～)适合作为评估相位差的波长分散、自动检测配向角(光学轴)或角度配向性等光学膜偏光特性的装置。检测器采用多频谱分光光谱仪，展现任一个波长的相位差量测。

购买须知

1、厂家货源正i品

日本原装。

2、关于尺码

按照出厂产品资料有说明。

3、关于颜色

4、关于客服

客户全天24小时在线，如需紧急处理，请致电公司 。

5、关于售后

日本产品保修一年，消耗品不再维修范围内。

大塚电子（苏州）有限公司主要销售用于光学特性评价?检查的装置。其装置用于在LED、 OLED、汽车前灯等的光源?照明产业以及液晶显示器、有机EL显示器等平板显示产业以及其相 关材料的光学特性评价?检查。欢迎新老客户来电咨询！

测定haze补正用样品（与被测定样品相同haze特性AG-TAC）,取得其补正table. 反复性能。(保证值)是利用本装置附属的基准样本(偏光板)的测量结果（0.1s间隔 ***15回连续测量）。将粘贴面有漏出的样品贴合与样品治具上，反转治具测定，玻璃上贴附样品的场合，将超出部分的film定位与基准面，只反转样品进行测定。因本系统为精密光学测定装置，作为设置场所，请考虑以下条件。

本装置是photonic结晶偏光子arrayh和CCD camera构成的***偏光计测模组和透过偏光光学系相结合进行测定椭圆率，方位角、从偏光film.位相差film贴合品的两面之测定，进而演算其吸收轴，光轴，相对角、RE的装置。

  本设备是利用瞬间多通道测光光谱仪以及偏光光学系高速测量透过型封入完成后的LCD Cell（TN,IPS,MVA）的Gap以及Pre-tilt角。附有自动XY-stage以及自动倾斜旋转stage的2个Sample stage。Calibration时，自动set基准sample。