热场发射扫描电子显微镜的应用

在地质领域中, 我们不仅需要对样品进行初步形貌观察, 还需要结合分析仪对样品的其它性质进行分析, 所以热场发射扫描电子显微镜的应用更为广泛。扫描电子显微镜(SEM) 是一种介于透射电子显微镜和光学显微镜之间的一种观察手段。其利用聚焦的很窄的高能电子束来扫描样品, 通过光束与物质间的相互作用, 来激发各种物理信息, 对这些信息收集、放大、再成像以达到对物质微观形貌表征的目的。

冷冻扫描电镜基于超低温冷冻制样传输技术

冷冻扫描电镜基于超低温冷冻制样传输技术，可避免干燥过程对含水量较高样品产生的影响，例如水凝胶等，可以直接观察冷冻后液体、半液体样品；测试生物样品时，冷冻技术能避免细胞因脱水产生的变形。与可以观察含水样品的环境扫描电镜相比，冷冻扫描电镜可在高真空状态下观察样品形貌，测试分辨率高，并可以直接对样品进行断裂，具有制样简单快速的优点。

EDS能谱分析是当X射线光子进入检测器后

EDS能谱分析是当X射线光子进入检测器后，在Si晶体内激发出一定数目的电子空穴对。产生一个空穴对的低平均能量ε是一定的（在低温下平均为3.8ev），而由一个X射线光子造成的空穴对的数目为N=△E/ε，因此，入射X射线光子的能量越高，N就越大。利用加在晶体两端的偏压收集电子空穴对，经过前置放大器转换成电流脉冲，电流脉冲的高度取决于N的大小。电流脉冲经过主放大器转换成电压脉冲进入多道脉冲高度分析器，脉冲高度分析器按高度把脉冲分类进行计数，这样就可以描出一张X射线按能量大小分布的图谱。