透射电镜是利用成像电磁透镜一次成像

电子显微镜的工作是进入微观世界的工作。我们平常所说的微乎其微或微不足道的东西, 在微观世界中, 这个微也就不称其微, 我们提出用纳米作为显微技术中的常用度量单位, 及1nm=10-6mm。扫描电镜成像过程与电视成像过程有很多相似之处, 而与透射电镜的成像原理完全不同。透射电镜是利用成像电磁透镜一次成像, 而扫描电镜的成像则不需要成象透镜, 其图象是按一定时间、空间顺序逐点形成并在镜体外显像管上显示。

扫描电镜中入射电子束在样品上的扫描和显像管中

在扫描电镜中, 入射电子束在样品上的扫描和显像管中电子束在荧光屏上的扫描是用一个共同的扫描发生器控制的。这样就保证了入射电子束的扫描和显像管中电子束的扫描完全同步, 保证了样品上的"物点"与荧光屏上的"象点"在时间和空间上一一对应, 称其为"同步扫描"。一般扫描图象是由近100万个与物点一一对应的图象单元构成的, 正因为如此, 才使得扫描电镜除能显示一般的形貌外, 还能将样品局部范围内的化学元素、光、电、磁等性质的差异以二维图象形式显示。

常规实验室使用的另一个例子观察组件缺陷

常规实验室使用的另一个例子观察组件缺陷。图4显示了关于冷斑的一个例子，包括起皱的表面。在注射成型过程中，聚合物熔体已经变成半固态，通过施加压力进一步挤压成型。因此，负载能力应该在这里减少。在图5中，组件显示了大量的裂缝，尽管玻璃纤维的强取向，但是，由于玻璃纤维被强化，产生了有害的影响。纤维的这种取向与应力方向平行，对构件的机械承载能力没有太大的影响。此外，空的、光滑的纤维证明了没有达到的纤维基质结合。

EDS能谱分析是当X射线光子进入检测器后

EDS能谱分析是当X射线光子进入检测器后，在Si晶体内激发出一定数目的电子空穴对。产生一个空穴对的低平均能量ε是一定的（在低温下平均为3.8ev），而由一个X射线光子造成的空穴对的数目为N=△E/ε，因此，入射X射线光子的能量越高，N就越大。利用加在晶体两端的偏压收集电子空穴对，经过前置放大器转换成电流脉冲，电流脉冲的高度取决于N的大小。电流脉冲经过主放大器转换成电压脉冲进入多道脉冲高度分析器，脉冲高度分析器按高度把脉冲分类进行计数，这样就可以描出一张X射线按能量大小分布的图谱。