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增城数字芯片与光耦抗干扰连接多重优惠“本信息长期有效”
来源:2592作者:2021/11/7 3:40:00






数IC设计产品类型?

对于当今所有的IC设计,DC Ultra 是可以利用的的综合平台。它扩展了DC Expert的功能,包括许多的综合优化算法,让关键路径的分析和优化在的时间内完成。在其中集成的Module Compiler数据通路综合技术, DC Ultra利用同样的VHDL/Verilog流程,能够创造处又快又小的电路。这一阶段一般使用语言(如C\C++),利用算法级建模和工具(如Matlab,SPW)进行浮点和***的,进而对算法进行评估和优化。

DFT Compiler

DFT Compiler提供***的“一遍测试综合”技术和方案。它和Design Compiler 、Physical Compiler系列产品集成在一起的,包含功能强大的扫描式可测性设计分析、综合和验证技术。DFT Compiler可以使设计者在设计流程的前期,很快而且方便的实现高质量的测试分析,确保时序要求和测试覆盖率要求同时得到满足。03与元器件关系紧密对于数字电路来说是没有噪音和失真的,数字电路设计者完全不用考虑这些因素。DFT Compiler同时支持RTL级、门级的扫描测试设计规则的检查,以及给予约束的扫描链插入和优化,同时进行失效覆盖的分析。

Power Compiler

Power Compiler?质量(Quality)就是产品性能的测量,它回答了一个产品是否合乎规格(SPEC)的要求,是否符合各项性能指标的问题。提供简便的功耗优化能力,能够自动将设计的功耗化,提供综合前的功耗预估能力,让设计者可以更好的规划功耗分布,在短时间内完成低功耗设计。Power Compiler嵌入Design Compiler/Physical Compiler之上,是业界可以同时优化时序、功耗和面积的综合工具。




FPGA Compiler II

FPGA Compiler II是一个***于快速开发***FPGA产品的逻辑综合工具,可以根据设计者的约束条件,针对特定的FPGA结构(物理结构)在性能与面积方面对设计进行优化,自动地完成电路的逻辑实现过程,从而大大降低了FPGA设计的复杂度。数字IC就是传递、加工、处理数字信号的IC,是近年来应用广、发展快的IC品种,可分为通用数字IC和***数字IC。



IC半导体的基础知识(一)

一、物理基础    所有物质按照导电能力的差别可分为导体、半导体和绝缘体三类。半导体材料的导电性能介于导体和绝缘体之间。或者说,半导体是介于导体和绝缘体之间的物质。常用的半导体材料有:元素半导体硅(Si)和锗(Ge)、化合物半导体(GaAs)等。虽然数字IC和模拟IC同属于集成电路范畴,但两者的基本工作原理截然不同,基本的工作原理的差异决定了数字IC和模拟IC不同的产品特性、设计思路、工艺选择以及市场分布情况。导体的电阻率在10-4Ω?cm以下,如铜的电阻率为1.67×10-6 Ω?cm,绝缘体的电阻率在1010 Ω?cm以上,半导体的电阻率在10-3Ω?cm~109Ω?cm之间,与导体的电阻率相比较,半导体的电阻率有以下特点。




1.对温度反映灵敏

导体的电阻率随温度的升高略有升高,如铜的电阻率仅增加0.4%左右,但半导体的电阻率则随温度的上升而急剧下降,如纯锗,温度从20℃上升到30℃时,电阻率降低一半左右。

2.杂质的影响显著

金属中含有少量杂质其电阻率不会发生显著变化,但是,极微量的杂质掺在半导体中,会引起电阻率的极大变化。如在纯硅中加入百万分之一的硼,就可以使硅的电阻率从2.3×105 Ω?cm急剧减少到0.4 Ω?cm左右。

3.光照可以改变电阻率

例如,有些半导体(如)受到光照时,其导电能力会变得很强;当无光照时,又变得像绝缘体那样不导电,利用这种特性可以制成光敏元件。而金属的电阻率则不受光照的影响。

温度、杂质、光照对半导体电阻率的上述控制作用是制作各种半导体器件的物理基础。



大功率模拟集成电路

随着集成电路产业快速发展,集成电路的集成度越来越高,内部结构也越来越复杂,对于测试的要求也越来越高。集成电路测试技术作为保障集成电路性能、质量的重要技术之一也得到了很快的发展。直流参数测试是集成电路测试技术的重要组成部分,能够快速有效的检测芯片的性能,受到集成电路测试行业的高度重视。这个步骤就像初步记下建筑的规画,将整体轮廓描绘出来,方便后续制图。实现了一种大功率直流参数测试的研制,可以实现高电压、大电流的直流参数测试,具有很高的测试精度,而且具有一定的通用性。 




首先根据文献资料分析本课题研究的背景以及意义,介绍了集成电路测试系统组成、分类以及国内外的发展状况。介绍了集成电路直流参数测试的基本原理与方法,在此基础上分析了大功率模拟集成电路直流参数测试的设计需求,提出了设计需要实现的功能与设计指标,构建了大功率模拟集成电路直流参数测试实现的原理方案;设计了接口控制模块、逻辑控制模块与精密测量单元,详细分析了精密测量单元的工作原理,并搭建了具体的硬件电路;根据硬件所需要实现的测试功能,设计了测试底层驱动函数,提供给应用软件测试函数接口实现可编程测试,并对测试进行了软件校正;后文章给出了功能测试数据与报告,分析了集成运算放大器的测试原理和方法,并给出了测试过程与测试数据,表明测试性能达到了比较好的效果。设计的大功率模拟直流参数测试模块,已经被广东某集成电路制造企业使用,使用效果表明测试模块性能稳定,通用性强,成本低,特别适合国内集成电路企业的应用,具有比较高的实用价值。针对静态时序分析和后中出现的问题,对电路和单元布局进行小范围的改动。          


数字IC管脚状态

根据CMOS数字IC管脚间的等效结构,给出了无偏置时任意两管脚之间的电压;其次,探讨了地开路时的输出管脚的状态;然后,提取了电源浮空时的等效电路;后,利用所提取的等效电路,对二极管结构电源浮空电位和浮阱结构电源浮空电位进行了计算。




深圳瑞泰威科技有限公司是国内IC电子元器件的代理销售企业,***从事各类驱动IC、存储IC、传感器IC、触摸IC销售,品类齐全,具备上百个型号。除了通用的南北桥结构外,目前芯片组正向更的加速集线架构发展,Intel的8xx系列芯片组就是这类芯片组的代表,它将一些子系统如IDE接口、音效、MODEM和USB直接接入主芯片,能够提供比PCI总线宽一倍的带宽,达到了266MB/s。与国内外的东芝、恩智浦、安森美、全宇昕、上海晶准等均稳定合作,保证产品的品质和稳定供货。自公司成立以来,飞速发展,产品已涵盖了工控类IC、光通信类IC、无线通信IC、消费类IC等行业。


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