半导体气体传感器发展背景

半导体气体传感器发展背景：这种传感器的主要供应商在日本（***），其次是中国，近有新加入了韩国，其他国家如美国在这方面也有相当的工作，但是始终没有汇入主流！中国在这个领域投入的人力和时间都不亚于日本，但是由于多年来国家政策导向以及社会信息闭塞等原因，我国流行于市场的半导体式气体传感器性能质量都远逊于日本产品，相信，随着市场进步，民营资本的进一步兴起，中国产的半导体式气体传感器达到和超越日本水平已经指日可待

电容位移传感器测量轴瓦厚度滑动轴承常见失效

电容位移传感器测量轴瓦厚度 滑动轴承常见失效形式有： 1.瓦面腐蚀：光谱分析发现有色金属元素浓度异常；谱中出现了许多有色金属成分的亚微米级磨损颗粒。 2.轴颈表面腐蚀：光谱分析发现铁元素浓度异常，铁谱中有许多铁成分的亚微米颗粒。 3.轴颈表面拉伤:铁谱中有铁系切削磨粒或黑色氧化物颗粒，金属表面存在回火色。 4.瓦背微动磨损:光谱分析发现铁浓度异常，铁谱中有许多铁成分亚微米磨损颗粒。 5.轴承表面拉伤：铁谱中发现有切削磨粒，磨粒成分为有色金属。 6.瓦面剥落：铁谱中发现有许多大尺寸的疲劳剥落合金磨损颗粒、层状磨粒。 7.轴承烧瓦：铁谱中有较多大尺寸的合金磨粒及黑色金属氧化物。 综上所述，轴瓦的整体厚度必须控制在一定范围内，以确保日后使用过程中，轴瓦与轴颈之间的良好润滑，避免不正常的机械接触。目前国际轴瓦厂商都在对轴瓦的厚度进行精密检测。成熟的测量方法是采用电容型位移传感器，两两正对安装，在不同位置测量轴瓦的厚度，并将测量值进行比较分析，以求剔除不合格的轴瓦部件。 采用电容位移传感器可以达到亚微米的精度，且测量稳定性非常高。德国米铱公司提供的capaNCDT65xx系列被广泛应用于轴瓦厚度测量领域，精度可达亚微米级别，获得了客户的高度评价。

电容位移传感器,直击核工业

电容位移传感器，直击核工业 电容式位移传感器测量原理决定了一个理想盘状电容极板至关重要。极板间距变化（传感器为一极板，被测物为另外一个极板）导致电容值发生变化。如果探头内线圈通过恒定频率和恒定幅值的交流电，交流电压的幅值与探头到被测物的间距成正比。被测物和传感器之间的距离被检测到后，经过处理后可以通过多种接口输出。 使用环境是本测量任务一大挑战。电容式位移传感器在一开始并不适合这个测量环境。电容位移传感器通常需要洁净，干燥的环境，以确保提供高精度的测量结果。德国米铱公司将的技术应用于液压静力水平测量仪CHLS4当中。传感器嵌入到防护外壳内，且配备加热系统。确保传感器整体比环境高几度，从而确保传感器保持干燥。传感器可以监控液面高度变化。由于整个测量必须处于性环境下，米铱公司仅将探头至于环境下，其余部件，如电缆和控制器会被置于辐射环境以外，大大方便后期维护。因此，所有部件可以更换。在类似粒子应用的强辐射环境下，可以将控制器和评估单元置于6-8m的安全距离外，这也得益于德国米铱公司电容位移传感器允许的长电缆。

光谱共焦位移传感器原理

光谱共焦位移传感器原理 1940年，医生HansGoldmann在瑞士伯尔尼发明了裂隙灯系统，用于检查。这个检测系统被认为是光谱共焦、共聚焦传感器测量系统的雏形。 光谱共焦位移传感器是一种通过光学色散原理建立距离与波长间的对应关系，利用光谱仪光谱信息，从而获得位置信息的装置，如图1所示，白光LED光源发出的光通过光纤耦合器后可以近似看作点光源，经过准直和色散物镜聚焦后发生光谱色散，在光轴上形成连续的单色光焦点，且每一个单色光焦点到被测物体的距离都不同。当被测物处于测量范围内某一位置时，只有某一波长的光聚焦在被测面上，该波长的光由于满足共焦条件，可以从被测物表面反射回光纤耦合器并进入光谱仪，而其他波长的光在被测物面表面处于离焦状态，反射回的光在光源处的分布远大于光纤纤芯直径，所以大部分光线无法进入光谱仪。通过光谱仪得到光强处的波长值，从而测得目标对应的距离值。由于采用了共焦技术，因此该方法具有良好的层析特性，提高了分辨力，并且对被测物特性和杂散光不敏感。