热阻测试仪应用范围:各种三极管、二极管等半导体分立器件,包括:常见的半导体闸流管、双极型晶体管、以及大功率IGBT、MOSFET、LED等器件。 各种复杂的IC以及MCM、SIP、SoC等新型结构 。 各种复杂的散热模组的热特性测试,如热管、风扇等。 半导体器件结温测量。 半导体器件稳态热阻及瞬态热阻抗测量。 半导体器件封装内部结构分析,包括器件封装内部每层结构(芯片+焊接层+热沉等)的热阻和热容参数。 半导体器件老化试验分析和封装缺陷诊断,帮助用户准确定位封装内部的缺陷结构。 材料热特性测量(导热系数和比热容)。 接触热阻测量,包括导热胶、新型热接触材料的导热性能测试。
无损检测系统1、非破坏性非破坏性——是指在获得检测结果的同时,除了剔除不合格品外,不损失零件。因此,检测规模不受零件多少的限制,既可抽样检验,又可在必要时采用普检。因而,更具有灵活性(普检、抽检均可)和可靠性。2、互容性互容性——即指检验方法的互容性,即:同一零件可同时或依次采用不同的检验方法;而且又可重复地进行同一检验。这也是非破坏性带来的好处。3、动态性动态性——这是说,无损探伤方法可对使用中的零件进行检验,而且能够适时考察产品运行期的累计影响。因而,可查明结构的失效机理。4、严格性严格性——是指无损检测技术的严格性。首先无损检测需要仪器、设备;同时也需要专门训练的检验人员,按照严格的规程和标准进行操作。5、检验结果的分歧性检验结果的分歧性——不同的检测人员对同一试件的检测结果可能会有分歧。特别是在超声波检验时,同一检验项目要由两个检验人员来完成。需要“会诊”。概括起来,无损检测的特点是:非破坏性、互容性、动态性、严格性以及检测结果的分歧性等。
泄漏探测:压力或真空系统、密封和垫料、风噪音、舱口盖泄漏、真空包装、压缩空气、压缩机、阀、凝气阀、热交换器、锅炉、冷凝器、建筑围护结构、密封箱、精馏塔。
机械检查:轴承缺陷(所有运转速度)、润滑短缺、防止过度润滑、压缩机、泵浦(气蚀)、马达、齿轮或齿轮箱、液压系统、风机、联轴器、趋向、趋向报告、频谱分析。
电气检查:(所有电压,开放式或封闭式)电弧、漏电、电晕、局部放电:开关、变压器、避雷器、绝缘子、电机控制中心、配电线路、汇流排、断路器/隔断器。