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来源:2592作者:2021/10/6 6:30:00






热阻测试仪是***的热测试仪,用于测试IC、LED、散热器、热管等电子器件的热特性。该仪器基于***的测试方法,通过改变电子器件的输入功率,使得器件产生温度变化,在变化过程中,仪器测试出芯片的瞬态温度响应曲线,仅在几分钟之内即可分析得到关于该电子器件的的热特性。仪器测试技术不是基于“脉冲方法”的热测试仪,“脉冲方法”由于是基于测量的技术所以其测出的温度瞬态测试曲线精度不高,而热阻测试仪采用的是“运行中”的实时测量的方法,结合其精密的硬件可以快速扑捉到高信噪比的温度瞬态曲线。


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气密性试验主要是检验容器的各联接部位是否有泄漏现象。介质毒性程度为极度、高度危害或设计上不允许有微量泄漏的压力容器,必须进密性试验。方法压力容器应按以下要求进密性试验:(1)气密性试验应在液压试验合格后进行。对设计要求作气压试验的压力容器,气密性试验可与气压试验同时进行,试验压力应为气压试验的压力。(2)碳素钢和低合金钢制成的压力容器,其试验用气体的温度应不低于5℃,其它材料制成的压力容器按设计图样规定。(3)气密性试验所用气体,应为干燥、清洁的空气、氮气或其他惰性气体。(4)进密性试验时,安全附件应安装齐全。(5)试验时压力应缓慢上升,达到规定试验压力后保压不少于30分钟,然后降至设计压力,对所有焊缝和连接部位涂刷肥皂水进行检查,以无泄漏为合格。如有泄漏,修补后重新进行液压试验和气密性试验。





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