x射线发生装置的分类

X射线衍射仪分为单晶衍射仪和多晶衍射仪两种。单晶衍射仪的被测对象为单晶体试样，主要用于确定未知晶体材料的晶体结构。基本原理：在一粒单晶体中原子或原子团均是周期排列的。将X射线（如Cu的Kα辐射）射到一粒单晶体上会发生衍射，由对衍射线的分析可以解析出原子在晶体中的排列规律，也即解出晶体的结构。

x射线发生装置检测样品时有哪些要求？

1、送样者在测试X射线衍射之前，请务必事先了解晶体学的基础知识和X射线衍射的基本原理。为什么要用X射线衍射仪以及测试项目（晶型、晶粒尺寸、结晶度、取向度、物相分析等）；

2、送样前，请用简单易记的英文字母（如：A,B,C…）和数字（如：1，2，3…）对样品进行编号等.

3、粉末样品：须充分研磨，需0.2克左右；

4、 片状样品：需有一个大于55mm（佳为1515mm）平整的测试面；

5、块状样品：需有一个大于55mm（佳为1515mm）平整的测试面，如不平整，可用砂纸轻轻磨平，无厚度要求；

6、纤维样品：

a、取向度测试：样品须疏理整齐，少需长约30mm，直径约3mm一束纤维（大约圆珠笔芯大小的一束丝）；

b、常规测试、结晶度、晶粒尺寸：样品须充分剪碎，呈细粉末状，需0.2克左右(大约一分钱的体积)；

7、 液体样品不能测试；

x射线发生装置-涂层应用

现代生活的每个环节都得益于涂层或薄膜技术。无论是集成电路芯片上的阻挡层薄膜还是铝制饮料罐上的涂层，X射线是研发，产品过程控制和不可缺少的分析技术。作为纳米技术研究，X射线衍射(XRD)和附属技术被用于确定薄膜分子结构的性质。理学的技术和经验为涂层和薄膜测量提供各种无损分析解决方案。