MicroPioneer X射线镀层测厚仪标准片(X射线膜厚仪标准片) 、测厚仪校正片、薄片，x荧光光谱测厚仪标准片，韩国先锋镀层测厚仪标准片，XRF2000标准片，带N.I.S.T证书，可通用于英国牛津CMI、德国Fischer、美国Thermo、日本Seiko等各种X射线测厚仪。

标准片列表Standard Foil Stock List：

Ag银:0.28um，0.70um，1.00um，3.00um，5.00um，6.00um，12.00um

Au金:0.04um，0.10um，标准片，0.20um，0.40um，0.50um，0.90um，1.20um，2.40um，5.30um

Bi铋:3.56um，6.24um

Cr铬:0.07um，0.10um，0.30um，0.50um，达克罗测厚仪标准片，2.50um，3.70um，4.10um，5.00um，66.90um，7.80um，8.70um

Cu铜:0.40um，1.00um，3.00um，镀层测厚仪标准片，5.40um，7.50um，10.00um，4.00um，17.00um，19.00um，30.00um，40.00um

江苏一六仪器有限公司是一家专注于光谱分析仪器研发、生产、销售的高新技术企业。拥有***的技术，好的良将，能够***各种涂镀层、膜层的检测难题。应用于电子元器件、LED和照明、家用电器、通讯、汽车电子、jun工等制造领域。

美国CAL标准片，CALMETRIC标准片，CMI标准片，测厚仪标准片，CAL校正片，又称标准箔，膜厚片。根据荧光X-射线的能量强度及相应镀层厚度的对应关系，来得到标准曲线。之后以此标准曲线来测量未知样品，以得到镀层厚度或组成比率。对于PCB、五金电镀和半导体等行业使用测厚仪来检测品质和控制成本起到了很重要的作用。

使用标准片进行电解测厚仪校正具有的意义：

即使使用同样镀层标准片的情况下，由于电解液的老化而使电解效率变化，或是由于测量器的故障，或是由于调整不良等现象也会而引起特定量程的误差等，因此要有除了橡胶测头因素以外的验查能力。在这里要注意不同种类的镀层标准片，由于经过时间较长或者保管不善而产生氧化和在层间形成合金层的情形下，用这样的标准片来校正时是不能令人满意的。

标准片-一六仪器-x荧光光谱测厚仪标准片由江苏一六仪器有限公司提供。标准片-一六仪器-x荧光光谱测厚仪标准片是江苏一六仪器有限公司（）今年全新升级推出的，以上图片仅供参考，请您拨打本页面或图片上的联系电话，索取联系人：冯女士。