国产测厚仪-测厚仪-X荧光镀层测厚仪

一六仪器 ***测厚仪 多道脉冲分析采集,国产测厚仪,***EFP算法  X射线荧光镀层测厚仪

应用于电子元器件,LED和照明,家用电器,通讯,汽车电子领域.EFP算法结合***定位决了各种大小异形多层多元素的涂镀层厚度和成分分析的业界难题

软件算法


?大致分为3个方法。一个是制作测量线的方法(经验系数法)。这个方法是测定几点实际的已知厚度样品,寻求想测定元素的荧光X射线强度和厚度之间的关系,以其结果为基础测定未知样品取得荧光X射线,从而得到浓度值。

?另一个方法是理论演算的基础参数法(FP法)。这个方法在完全了解样品的构成和元素种类前提,利用计算的各个荧光X射线强度的理论值,推测测定得到未知样品各个元素的荧光X射线强度的组成一致。

?NBS-GSC法也称作理论Alpha系数法。它是基于荧光X射线激发的基本原理,从理论上使用基本物理参数计算出样品中每个元素的一次和二次特征X射线荧光强度的。基于此再计算Lachance综合校正系数,然后使用这些理论α系数去校正元素间的吸收增强。它与经验系数法不同,测厚仪,这些校正系数是从“理论”上取得的,而非建立在“经验”上。因而它也不需要那么多的标样,只要少数标样来校准仪器因子。









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江苏一六仪器    X荧光光谱测厚仪

下照式设计:可以快速方便地定位对焦样品。

  无损变焦检测:可对各种异形凹槽进行无损检测,凹槽深度范围0-90mm。

  微聚焦射线装置:可检测面积小于0.002mm2的样品,可测试各微小的部件。

  接收:即使测试0.01mm2以下的样品,几秒钟也能达到稳定性。

  精密微型滑轨:快速***定位样品。

  EFP***算法软件:多层多元素,甚至有同种元素在不同层也难不倒EFP算法软件。


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