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平面光栅光谱仪的主要性能

a)      色散率:光谱在空间按波长分离的程度称为色散率,其表示方法有角色散率(dβ/dl)和线色散率(dl/dl)两种,通常以线色散率倒数dl/dl表示仪器的色散能力,其单位为nm/mm。

光栅的角散率:dβ/dl=m/(d?cosβ)

由此可见,角色散率与光谱级次m成正比。对于给定的波长范围,由于平面光栅的β较小(0-8°),cosβ变化不大(1-0.99),因而在同一个级次下,角色散率几乎不变;二级光谱的角色散率为一级光谱角色散率的两倍。

在Ebert装置的平面光栅仪中,焦平面与光轴垂直, β=0-8°时,cosβ?1。此时线色散率倒数为:

dλ/dl@d/(f·m)   f为成像物镜的焦距。

可见,线色散率倒数与成像物镜的焦距f、衍射光谱级次m成反比,即采用长焦距和高衍射级次的光谱有利于提高线色散率。同时平面光栅光谱仪的线色散率倒数只有在β角很小的情况下才接近常数,即随波长的增加,线色散率倒数几乎不变。

b)    分辨率:仪器的分辨率又称分辩本领,是指仪器两条波长相差***的谱线,按Rayleigh原则可分开的能力。所谓Rayleigh原则,指一条谱线的强度极大值恰好落在另一条强度相近的谱线的强度***值处,若此时这两条谱线刚能被分开,则这两条谱线的平均波长λ与波长差Δλ之比值,称为仪器的理论分辨率R,即R=λ/Δλ。对于平面光栅,理论分辨率R=λ/Δλ=m·N,由此表明光栅的分辨率为光谱级次m与总刻线N的乘积,不随波长改变而改变。

当级次m增加时,角色散率、线色散率及分辨率均随之增加。这时光栅偏转的角度也越大,它在衍射方向的投影也越少,因而光栅的有效孔径也随之越小,因此,光谱强度也相应减弱。

实际分辨率由于受许多客观误差因素的影响,总是比理论分辨率差,一台单色仪的分辨率是它能分辩的***xiao波长间距,这个波长间距不但有赖于仪器的分辩本领,而且也与狭缝的宽度、狭缝的高度及光学系统的完善性有关。在扫描式单色仪中,分辨率通常用半强度带宽值报出。

谱线是狭缝的单色像,虽然采用窄狭缝对提高分辨率有利,但是,如果用太窄的狭缝就会使光强度明显地减弱,在平面光栅的ICP光谱仪中用的狭缝宽度一般为20um左右。


现在很多人将光纤光谱仪与光栅光谱仪分不清楚;

一:基本信息:

1:光纤光谱仪:

光纤光谱仪一款紧凑型光谱测量仪器,它将一个光谱仪和一个光学探测器结合到同一单元中。光纤也被采用。因为它灵敏度很高,在常规应用中只需将光纤头靠近样本就能轻松地获得光谱信息,而无需特殊得光收集系统。由于光谱仪和光电探测器都是固定得。

2:光栅光谱仪:

光栅光谱仪由一个多色仪、一个多通道探测器、控制器和数据分析器组成。因此能同时测定发射谱、吸收谱和反射谱。光电探测器可以更具待测波长和光强进行选择,因此您可以搭建一个***适合您得应用得光学系统。

二:产品特点:

1:光纤光谱仪

光谱仪、光电探测器和电源在同一紧凑单元中

实时测量(多波长同步测量成为可能)

采用光纤而易于测量

光谱响应和波长特性已校准

适应大范围变化

2:光栅光谱仪:

同步多波长测量:

采用自扫描图像传感器能同步测量多波长,而无需波长扫描。甚至微弱发光谱也能被迅速测定。

可选择***you光电探测器以满足应用需求

多种图像传感器可作为光电探测器进行选择。选择***匹配测量波长范围和光强得光电探测器.

三:产品应用

1:光纤光谱仪

应用:光纤、薄膜等得反射率测量

2:光栅光谱仪:

应用:光纤、薄膜等得反射率测量



       可见分光光度计是光谱仪器的一种,但不属于光纤光谱仪器。另外,可见分光光度计的特点非常多,具体如下:

小型一体化设计,易于便携,可用于户外现场检测;内置计算机,自备Windows CE操作系统,中文操作平台;触摸式彩色液晶显示屏(6.4寸),快速绘制全谱图;高精度光学系统,具有良好的稳定性;优异的波长重复性和准确度;快速分段扫描340 nm~1000 nm全谱谱图;图谱缩放功能、数据支持移动硬盘(≤4G)、USB2.0接口;内置微型打印机;灵活的仪器供电方式;钨灯光源,简单可靠。

可见分光光度计的功能有哪些呢?具体可以从五个方面来体现:

①系统功能:零点定位、采集背景、偏移校正、显示设置;

②波长扫描:可扫描340 nm~1000 nm任意波长范围内的样品光谱,扫描间隔为0.1 nm、0.5 nm、1.0 nm、2.0 nm,默认为1.0 nm,扫描速度为低速、标准、高速;

③光度测量:固定波长光强、透光率、吸光度测量;

④定量测量:根据标准样品建立工作曲线,进行浓度测量;

⑤时间扫描:可设定延shi时间、扫描间隔、扫描时间及波长参数进行时间扫描。

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