Verios™5 XHR扫描电镜

5XHRSEM提供了研究应用的所有灵活性,以容纳大样本,如全晶片或冶金样品,执行快速分析由于其高电流模式或工作在精密原型应用,如电子束诱导直接沉积材料或光刻。在半导体和数据存储市场,Verios 5XHRSEM性能显着扩展了SEM的能力,为基础研究、工艺和材料开发、过程控制和失效分析提供了完整的解决方案。它提供了准确的,可重复的测量结果,即使在***敏感的材料。5XHRSEM的特点是行业性能,而不影响高吞吐量、样品灵活性和传统SEM的易用性。



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TFE000053 TFE000053 Verios™5 XHR扫描电镜  Verios™5 XHR

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