Scios 2 DualBeam 系统的技术创新，结合易于使用、面的 ThermoScientific AutoTEM ™ 4软件（可选）和***的应用知识，可快速轻松地定位制备各类材料的高分辨S/TEM样品。 为了获得高质量的结果，需要使用低能离子进行精抛，以大限度地减少样品的表面损伤。 Thermo Scientific Sidewinder ™ HT聚焦离子束（FIB）镜筒不仅可以在高电压下提供高分辨率成像和刻蚀，而且具有良好的低电压性能，可以制备高质量的TEM薄片。ScientificTrinity ™ 检测技术可同时采集角度和能量选择性SE和BSE图像。无论是将样品竖直或倾斜放置进行观察，亦或者是观察样品截面，都可快速获取细的纳米级信息。可选配的透镜下探测器和电子束减速模式可确保快速、轻松地同时采集所有信号，以显示材料表面或截面中的小特征。依托***的NICol镜筒设计和全自动合轴功能，用户可获得快速、准确且可重复的结果。