X一射线荧光分析仪

X一射线荧光分析仪(XRF)是一种较新型的可以对多元众进行快速同时侧定的仪器。在X射线激发下，被测元素原子的内层电子发生能级跃迁而发出次级X射线(即X一荧光).波长和能量是从不同的角度来观察描述X射线所采用的两个物理I.波长色徽型X射线荧光光诺仪(WD-XRF)是用晶体分光而后由探侧移接收经过衍射的特征X射线信号。如果分光晶体和控侧作同步运动.不断地改变衍射角.便可获得祥品内各种无索所产生的特征X射线的波长及各个彼长X射线的强度.可以据此进行定性分析和定I分析.

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能量色散和波长色散X荧光光谱仪的区别

扫描电镜束流小，电子探针能谱分析结果比扫描电镜能谱准确一个数量级，电子探针元素面扫描可以用能谱，也可以用波谱，一般对轻元素（C以下），X荧光分析仪，波谱较准确，相对来说波谱扫描时间较长，一般定性及半定量基本用能谱。

能量色散X荧光光谱仪

性能优势：

1.采用行业较***的数字多道技术

优势：有效提高输出效率，实现超高计数率，保证采集有效计数率较高可达1000Wcps

2.采用大功率***管及***的准直滤光系统

优势：激发效率更高

3.光闸系统

优势：样品更换无需关闭高压，提高测试效率与测试精度

4.精密的定位系统

超高清晰工业摄像头，更清晰的显示测试点

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