手持式光谱仪的使用对使用环境有哪些特殊要求
任何精密仪器想要测定出准确的数据，必须在一定的工作条件下运行，环境对分析仪器的性能、可靠性、测量结果和寿命都有很大的影响。先解决主要问题，让仪器工作起来，再解决次要问题，完善仪器各项功能。而忽视其工作环境，容易导致仪器故障。因为外部环境的微小变化，都会对数据测定的稳定性带来变化；外部环境变化严重时还会对仪器造成损坏，缩短仪器的使用寿命，手持式光谱仪也不例外。
手持式光谱仪在使用的时候，对于环境是有一定的要求，不要在潮湿的环境下工作的，环境湿度0-95%之间为zui好，不能在太高温下操作工作，这样的理由是避免各类磁场的干扰，如此仪器分析的时候才能检测出更的精度。体系，有许多辅助设备，当系统出现故咖时，应先检查电脑稳压器等辅助设施，再看仪器主机运行任何仪器都是靠人来操作的,所以在仪器出现异常时,首先判断是否存在人为的问题。所以，大家在工作的时候要注意环境的适合度，很多时候仪器检测不标准跟环境还是有很大程度上的关系。 手持式光谱仪对于操作人员也是要一定要求的，测试样品前一定要请仪器厂商的技术人员现场演示，并且对技术人员做操作前的培训。因为这款仪器是检测元素，那么一定会要做放样检测，这对人体来说是有一定的为还在用，所以，技术人员还需要做好防辐射。
手持式光谱仪是一种基于XRF光谱分析技术的光谱分析仪器，当能量高于原子内层电子结合能的高能X射线与原子发生碰撞时,驱逐一个内层电子从而出现一个空穴,使整个原子体系处于不稳定的状态,当较外层的电子跃迁到空穴时,产生一次光电子，击出的光子可能再次被吸收而逐出较外层的另一个次级光电子，发生俄歇效应,亦称次级光电效应或无辐射效应。手持光谱仪定性分析的样品可以是多种多样的，所以手持光谱仪光谱定性采用的方法各不相同，对于易导电的金属试样可以将试样本身作为电极直接用直流电孤或交流电孤光源分析。所逐出的次级光电子称为俄歇电子。
由于电子元器件特别是集成电路要求在合适的温度范围内工作，因此为保证仪器的精密度和延长其使用寿命，应让仪器始终处于符合要求的环境温度。仪器内部，用***毛刷(或者脱脂棉)清扫钨电极周围和燃烧室里面的黑色废渣(严禁使用酒精等液体)。手持式光谱仪在工作过程中如果超过了环境温度的设定范围，就会出现仪器寻峰不准无法分析、测定标准样品数据时高时低等故障现象。时间证明，温度不稳定、变化太大大可使样品检测出的数据超出了标本10%以上。
手持式光谱仪怎么挑选适合自己的
随着手持式光谱仪的不断推广，各行各业的广泛应用，客户对手持式光谱仪的认可。2，技术人员在操作分析仪器之前，应当熟读仪器产品说明书，或者观看仪器厂商人员现场演示。我们也得到了很多关于手持式光谱仪客户的反馈。根据企业产品需要，选购仪器的目的是为了保证企业自身产品质量得到控制，所以要讲究仪器对企业产品的适应性，像炉前测试尽可能测试时间要快，来料检验较好要能打印测试报告，而成品检验则要考虑到仪器的性。而单一产品如钢材、钢丝绳等生产单位对仪器的***性要求可适当降低，而像铸造铜合金、铝合金、不锈钢等企业就应特别注重仪器的***性，一般说来***性强的仪器测试较精高。 在具体选购手持式光谱仪的时候，提供几点意见给大家参考：
1、稳定性，分析仪器重要的就是稳定性。
2、故障率，如果一个产品经常损坏，更会影响到工作效率。
3、考虑波长范围，是否能覆盖你所要检测所有元素的谱线范围。
4、光学分辨率（200nm处），理论上来说分辨率越高越好，这个还是要客户的样品情况。
5、分析速度，如果是全谱的机器，一般72个元素/分钟，如果是扫描型的，速度要慢。现在除了一些特殊行业还在用扫描型的，其他的都是全谱了。不是说扫描型不好，只是技术比较陈旧，容易被淘汰。
浅析手持式光谱仪用于定性分析的方法
手持光谱仪用于定性分析方法有比较光谱分析法：这种方法应用比较广泛，它包括标准试样比较法和铁谱比较法。要对这些因素进行逐一分析是比较困难的，但对于一些比较简单的体系，还是能作比较的计算。标准样品比较法一般适用于单项定性分析及有限分析。铁谱比较法它不但可以做单项测定还便于做全分析。手持光谱仪谱线波长测量法：光谱分析仪器利用谱线波长测量法进行定性分析是先测出某一谱线的波长，再查表确定存在的元素，这种方法在日常分析中很少使用，一般只是在编制谱图或者做仲裁分析时才用。
光谱仪处理的不确定度
光谱仪数据处理过程中
在这里，数据处理过程是指从测量的谱线强度计算样品中元素浓度的过程，包括根据标准样品建立校正和根据校正计算未知样的浓度。在此基础上进一步维修复杂的而繁琐主电路或线路，如变压器、继电器、接触器、电磁阀、压力传感器、过压(限压)保护开关、流量传感器等主控电路或线路。在采用线性回归方法校正的过程中，校正模型的选用、基体校正方法、谱线重叠的校正方法、标准数据的准确性至分析浓度的范围等都对分析结果的准确度产生影响。要对这些因素进行逐一分析是比较困难的，但对于一些比较简单的体系，还是能作比较的计算。Rashmi等就对用散射法测定轻基体中Fe时的不度进行了较的分析。
光谱仪标准
前面对X射线荧谱仪分析中的度来源进行了介绍，下面介绍几个主要过程的标准度估计方法。由Moseley定律可知,只有测出荧光X射线的波长,就不妨晓得元素的品哪类,这便是荧光X射线定性分析的底子。测量结果的标准度实际上是由多个度分量合成的。X射线荧谱分析中度的来源分别从以下几个方面考虑，即取样(ul)、样品制备(u2)、强度测量(u3)和回归分析(u4，包括校正模型、校正系数的选择和标准样品标准值的准确性)。在实际分析中，其中的一个或几个可能是对分析结果的合成标准度起决定作用的分量，那么就应采取措施尽量减小其度。此处的标准度均采用相对标准度，以免量纲。如不说明，标准度均指相对标准度，实验标准偏差也指相对标准偏差。
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