大塚电子（苏州）有限公司主要销售用于光学特性评价?检查的装置。其装置用于在LED、 OLED、汽车前灯等的光源?照明产业以及液晶显示器、有机EL显示器等平板显示产业以及其相 关材料的光学特性评价?检查。欢迎新老客户来电咨询！

光谱仪和分光光度计有什么区别

光谱仪可以自动绘出光谱图，而分光光度计通常指一次测定只能在一个波长（频率、或波数）处进行，想要绘制光谱图的话，必须手动不断改变工作波

长（频率、或波数），日本大塚MCPD，分别测定后，手工绘制光谱图.显然这种仪器对于需要经常根据光谱图定性分析的用户而言是很不方便的，但价格相对于光谱仪要便宜得多。

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 表征光谱仪基本特性的参量有光谱范围、色散率、带宽和分辨本领等。基于干涉原理设计的光谱仪（如法布里-珀罗i干涉仪、傅立叶变换光谱仪）具有很高的色散率和分辨本领，光谱仪，常用于光谱精细结构的分析。

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近红外光谱主要是由于分子振动的非谐振性使分子振动从基态向高能级跃迁时产生的，记录的主要是含氢基团X－H（X=C、N、O）振动的倍频和合频吸收。因此，依靠传统的建立工作曲线方法进行定量分析是十分困难的，化学计量学的发展为这一问题的解决奠定了数学基础。不同团（如甲i基、亚甲i基，日本大塚MCPD光谱仪，1苯环等）或同一基团在不同化学环境中的近红外吸收波长与强度都有明显差别，NIR 光谱具有丰富的结构和组成信息，非常适合用于碳氢有机物质的组成与性质测量。但在 NIR区域，吸收强度弱，灵敏度相对较低，吸收带较宽且重叠严重。因此，依靠传统的建立工作曲线方法进行定量分析是十分困难的，化学计量学的发展为这一问题的解决奠定了数学基础。

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