（3）设备的功能特点1）各种数据以图形方式在检测时实时显示与记录。数据采集后，后台软件自动及时绘出相应图表，以方便现场判断使用。2）具有大容量的数据采集能力。主要参数 测试范围 精度要求 测试条件Vce集射极电压 150～3300V 150～500V±3%±1V。测试数据直接进入控制电脑，这样使得采集数据的容量为大。3）具有内置的软件，帮助提供自动判断。4）具有方便的历史数据存储及检索功能。

目的和用途该设备用于功率半导体模块（IGBT、FRD、肖特基二极管等）的动态参数测试，变频器用IGBT测试仪厂家，以表征器件的动态特性，变频器用IGBT测试仪批发，通过测试夹具的连接，变频器用IGBT测试仪加工，实现模块的动态参数测试。Eon、Eoff开通/关断能量 1～5000mJ 1～50mJ±2%±0。1.2 测试对象IGBT、FRD、肖特基二极管等功率半导体模块2.测试参数及指标2.1开关时间测试单元技术条件开通时间测试参数：1、开通时间ton：5～2000ns±3%±3ns2、开通延迟时间td(on)：5～2000ns±3%±3ns3、上升时间tr：5～2000ns±3%±3ns4、开通能量： 0.2～1mJ±5%±0.01mJ1～50mJ±5%±0.1mJ 50～100mJ±5%±1mJ100～500mJ±5%±2mJ5、开通电流上升率di/dt测量范围：200-10000A/uS6、开通峰值功率Pon：10W～250kW

IGBT动态参数测试系统技术要求

1、设备概述

该设备用于功率半导体模块（IGBT、FRD、肖特基二极管等）的动态参数测试，以表征器件的动态特性，变频器用IGBT测试仪，通过测试夹具的连接，实现模块的动态参数测试。

2、需提供设备操作手册、维修手册、零部件清单、基础图、设备总图、部件装配图、电气原理图、全机润滑系统图、电气接线用、计算机控制程序软件及其他必要的技术文件，设备有通讯模块必须提供通讯协议及其他必要的技术文件，所有资料必须准备（正本、副本）各一份，电子版一份；（正本、副本）技术资料，应至少有一份采用中文，另一份技术资料可以是英文或中文。当功率元件老化时，元件的内阻在导通时必定会加大，因而使温度升高，并使其效能降低。

变频器用IGBT测试仪厂家-华科分立器件测试仪由深圳市华科智源科技有限公司提供。深圳市华科智源科技有限公司在电子测量仪器这一领域倾注了诸多的热忱和热情，华科智源一直以客户为中心、为客户创造价值的理念、以品质、服务来赢得市场，衷心希望能与社会各界合作，共创成功，共创辉煌。同一测试条件的器件的测试曲线可以在软件内进行对比，新测曲线可以与原测曲线进行对比。相关业务欢迎垂询，联系人：陈少龙。