金相显微镜与扫描电子显微镜的区别

一点，屏幕分辨率：金相显微镜因为光的干涉和透射功效，屏幕分辨率仅有限于0.2-0.5um中间。扫描电子显微镜因为采用离子束做为光源，它的屏幕分辨率可以做到1-3nm中间，因为金相显微镜的机构观查归属于μm级剖析，扫描电子显微镜的机构观察归属于纳米剖析。

　　其次第二点，景深：通常金相显微镜的景深在2-3um中间，因为对试品的表面光洁水平具有十分高的规定，所以制样全过程相对性十分繁杂。扫描电子显微镜的景深则能够达到好多个。

　　金相显微镜（metallurgical microscope）是用出射照明灯具来观察金属材料试件表面（合金成分）的光学显微镜，它是把显微镜技术性、光电转换技术性、电子计算机图象处理技术性地融合在一起从而开发设计研发成的新科技产品，可以在电子计算机上很便捷地观查金相分析图象，进而对金相分析图普开展剖析，定级等还有对图片开展輸出以及复印。

扫描电镜和透射电镜设备的不同点：

　　高分辨率台式扫描电镜使用—组特定的线圈以光栅样式扫描样品并收集散射的电子。

　　透射电镜是使用透射电子，收集透过样品的电子。因此，透射电镜提供了样品的内部结构，如晶体结构，天津环境场扫描电镜分析，形态和应力状态信息，而扫描电镜则提供了样品表面及其组成的信息。

　　而且，这两种设备的差别之一是它们可以达到的空间分辨率;扫描电镜的分辨率被限制在～0.5nm，而随着近在球差校正透射电镜中的发展，已经报道了其空间分辨率甚至小于50pm。

扫描电子显微镜的基本结构：

　　扫描电子显微镜是运用材料表面微区的特征（如形貌、原子序数、化学成分或者晶体结构等）的差异，在电子束作用下通过试样不同区域产生不同的亮度差异，从而获得具有一定衬度的图像。成像信号是二次电子、背散射电子或者吸收电子，此中二次电子是主要的成像信号。高能电子束轰击样品表面，激发出样品表面的各种物理信号，再利用不同的接受物理信号转换成图像信息。

　　扫描电子显微镜除了可以测试二次电子图像之外，还可以测试背散射电子、透射电子、特征x射线以及阴极发光等信号图像。它的成像原理和二次电子像一样。在进行扫描电子显微镜观察之前，要对样品作相应的处理。

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