扫描电子显微镜的基本结构

扫描电子显微镜的基本结构：

　　扫描电子显微镜是运用材料表面微区的特征（如形貌、原子序数、化学成分或者晶体结构等）的差异，在电子束作用下通过试样不同区域产生不同的亮度差异，从而获得具有一定衬度的图像。成像信号是二次电子、背散射电子或者吸收电子，此中二次电子是主要的成像信号。高能电子束轰击样品表面，激发出样品表面的各种物理信号，双束扫描电镜测试中心，再利用不同的接受物理信号转换成图像信息。

　　扫描电子显微镜除了可以测试二次电子图像之外，还可以测试背散射电子、透射电子、特征x射线以及阴极发光等信号图像。它的成像原理和二次电子像一样。在进行扫描电子显微镜观察之前，要对样品作相应的处理。

全自动扫描电镜对样品的要求

全自动扫描电镜对样品的要求

1、样品要尽可能干燥，含有水分或其他易挥发物的试样应先烘干除去；若样品中含有水份，水分挥发会造成仓内真空度急剧下降，导致图像漂移，有白色条纹，甚至会影响灯丝寿命；

　　2、热稳定性好，热稳定性差的样品往往在电子束的轰击下分解，释放气体和其他物质，污染电镜；

　　3、导电性好，导电性差的样品会发生荷电效应，造成图像畸变，亮点亮线，双束扫描电镜测试哪家好，像散等；

　　4、不含强磁性，文山双束扫描电镜测试，强磁性的样品观察一般会出现严重的像散，无法消去，双束扫描电镜测试费用，磁性粉末如果粘的不牢固还可能会吸附到探头上，损害电镜；

　　5、试样(表面)导电的固体，试样可以是块状或粉未状。不导电的试样，要***行镀膜处理，在材料表面形成一层导电膜；

　　扫描电子显微镜的原理介绍： 　　扫描电子显微镜是一种利用高能聚焦电子束扫描样品表面，从而获得样品信息的电子显微镜。因此其使用电子束为照明源，电子束在样品表面扫描，利用电子还有物质作用所产生的信息结合电子光学原理进行成像。判断扫描电镜性能主要根据分辨率还有有效放大倍数。分辨率也就是可以分辨的小距离。扫描电子显微镜(SEM)是一种介于透射电子显微镜与光学显微镜之间的一种观察手段。它是运用聚焦十分窄的高能电子束来扫描样品，通过光束合物质间的相互作用，来激发各种物理信息，对这些信息收集、放大还有再成像为了达到对物质微观形貌表征的目的。

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