扫描电子显微镜的原理

扫描电子显微镜的原理

扫描电子显微镜(SEM)是介于透射电镜还有光学显微镜之间的一种微观形貌观察手段，能够直接利用样品表面材料的物质性能进行微观成像。主要使用于各种材料的微观分析还有成分分析，双束扫描电镜测试费用，已经成为材料科学、生命科学以及各生产部门品质控制中不可或缺的工具之一。

　　扫描电子显微镜的结构包含电子光学系统、图像显示与记录系统、真空系统还有X射线能谱分析系统。

台式扫描电镜符合工艺要求

台式扫描电镜符合工艺要求

台式扫描电镜基于新一代高亮度灯丝和全新的聚焦系统，分辨率轻松达到10 nm，同时具有全自动操作、15秒快速抽真空、不喷金观看绝缘体、2-3年更换灯丝等特点。传统电镜往往通过提高加速电压来产生更高的信号，同时由于穿透深度较深，导致表面细节缺失。低加速电压电子穿透深度浅，避免样品被破坏，展现更多表面细节；探测背散射电子，展现清晰形貌结构的同时，提供丰富的成份信息。

台式扫描电镜是扫描电镜能谱行业的一个里程碑，亮度10倍于钨灯丝的灯丝，不仅成为*分辨率的台式扫描电镜，同时也使X射线能谱仪提供更加准确、快速的元素分析。台式扫描电镜的背散射图像，首先从视觉上用不同的灰度呈现不同的元素，进一步利用SDDX射线探测器，就能轻松确认不同灰度区域元素的名称和含量，淄博双束扫描电镜测试，提供5-95号元素的点扫描，双束扫描电镜测试机构，线扫描和面扫描三种分析模式。

扫描电子显微镜的相关应用

一点，扫描电子显微镜可以观察纳米材料：它具备很高的分辨率，能够观察组成材料的颗粒或者微晶尺寸在零点一至一百纳米范围里，在保持表面洁净的条件下加压成型而得到的固体材料。

　　其次第二点，材料断口的分析：扫描电子显微镜景深大，图象富立体感，并且具备有三维形态，可以从断口形貌呈现材料断裂的本质，在材料断裂原因的分析，事故原因的分析还有工艺合理性的判定等方面是一个强有力的手段。

　　第三点，直接观察大试样的原始表面：扫描电子显微镜可以直接观察直径一百毫米，高五十毫米，或更大尺寸的试样，对试样的形状无任何的限制，粗糙表面也可以进行观察，这样就免除了制备样品的麻烦，并且可以真实观察试样本身物质成分不同的衬度（背散射电子象）。

　　第四点，观察厚试样：它在观察厚试样的时候，可以得到高的分辨率会还有真实的形貌。

　　第五点，双束扫描电镜测试中心，能够观察试样的各个区域的细节：试样在样品室中可动的范围十分大，能够在三度空间内有六个自由度运动（也就是三度空间平移、三度空间旋转），这对观察不规则形状试样的各个区域带来很大的便利。

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